77.040.30 金属材料化学分析

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
DB15/T 1243-2017	树脂中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法	已废止	2017-09-10	2017-12-10
DB15/T 1240-2017	硅粉中铁、铝、钙、钛、硼、磷含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法	已废止	2017-09-10	2017-12-10
DB15/T 1239-2017	多晶硅生产净化氢气用活性炭中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法	已废止	2017-09-10	2017-12-10
DB15/T 1242-2017	氯硅烷中六氯硅氧烷含量的测定气相色谱—质谱法	已废止	2017-09-10	2017-12-10
GB/T 14265-2017	金属材料中氢、氧、氮、碳和硫分析方法通则	现行	2017-10-14	2018-05-01
YS/T 746.17-2018	无铅锡基焊料化学分析方法第17部分：银、铜、铅、铋、锑、铁、砷、锌、铝、镉、镍、铟量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法	现行	2018-04-30	2018-09-01
YS/T 37.2-2018	高纯二氧化锗化学分析方法钼蓝分光光度法测定硅量	现行	2018-10-22	2019-04-01
YS/T 37.3-2018	高纯二氧化锗化学分析方法石墨炉原子吸收光谱法测定砷量	现行	2018-10-22	2019-04-01
YS/T 37.1-2018	高纯二氧化锗化学分析方法硝酸银比浊法测定氯量	现行	2018-10-22	2019-04-01
YS/T 37.5-2018	高纯二氧化锗化学分析方法石墨炉原子吸收光谱法测定铁量	现行	2018-10-22	2019-04-01
YS/T 37.4-2018	高纯二氧化锗化学分析方法电感耦合等离子体质谱法测定镁、铝、钴、镍、铜、锌、铟、铅、钙、铁和砷量	现行	2018-10-22	2019-04-01
GB/T 37049-2018	电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法	现行	2018-12-28	2019-04-01
GB/T 16597-2019	冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则	现行	2019-06-04	2020-05-01
HS/T 64-2019	铁基合金带材的晶态定性分析方法	现行	2019-12-19	2020-06-01
GB/T 14849.3-2020	工业硅化学分析方法第3部分：钙含量的测定	现行	2020-03-06	2021-02-01
GB/T 14849.1-2020	工业硅化学分析方法第1部分：铁含量的测定	现行	2020-03-06	2021-02-01
T/CST 2-2020	金合金饰品多元素含量测定激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法	现行	2020-03-24	2020-04-24
YS/T 870-2020	纯铝化学分析方法痕量杂质元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法	现行	2020-12-09	2021-04-01
XB/T 628-2020	高纯稀土金属化学分析方法痕量元素含量的测定辉光放电质谱法	现行	2020-12-09	2021-04-01
T/CSTM 00770-2021	银镉含量的测定火焰原子吸收光谱法	现行	2021-08-17	2021-11-17