H21 金属物理性能试验方法

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 4339-1999	金属材料热膨胀特征参数的测定	已废止	1999-11-01	2000-08-01
GB/T 4067-1999	金属材料电阻温度特征参数的测定	现行	1999-11-01	2000-08-01
JB/T 9551-1999	热双金属螺旋形元件热偏转率试验方法	现行	1999-08-06	2000-01-01
GB/T 5166-1998	烧结金属材料和硬质合金弹性模量测定	已废止	1998-12-15	1999-08-01
GB/T 17473.3-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定	已废止	1998-08-19	1999-03-01
GB/T 17473.2-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定	已废止	1998-08-19	1999-03-01
GB/T 1558-1997	硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法	已废止	1997-12-22	1998-08-01
GB/T 17170-1997	非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法	已废止	1997-12-22	1998-08-01
GB/T 1555-1997	半导体单晶晶向测定方法	已废止	1997-12-22	1998-08-01
GB/T 17103-1997	金属材料定量极图的测定	已废止	1997-11-11	1998-05-01
YB/T 130-1997	钢的等温转变曲线图的测定	现行	1997-08-04	1997-12-01
GB/T 1553-1997	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	已废止	1997-06-03	1997-12-01
GB/T 1550-1997	非本征半导体材料导电类型测试方法	已废止	1997-06-03	1997-12-01
GB/T 16596-1996	确定晶片坐标系规范	已废止	1996-11-04	1997-04-01
GB/T 1424-1996	贵金属及其合金材料电阻系数测试方法	现行	1996-11-04	1997-04-01
GB/T 1423-1996	贵金属及其合金密度的测试方法	现行	1996-11-04	1997-04-01
GB/T 1425-1996	贵金属及其合金熔化温度范围的测定热分析试验方法	已废止	1996-11-04	1997-04-01
JB/T 7900-1995	高电阻电热合金电阻随温度变化的试验方法	已废止	1996-04-14	1996-04-14
GB/T 6618-1995	硅片厚度和总厚度变化测试方法	已废止	1995-04-18	1995-12-01
GB/T 1480-1995	金属粉末粒度组成的测定干筛分法	已废止	1995-04-18	1995-12-01