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L 电子元器件与信息技术

收录 5000 项
下级分类
L00-09 电子元器件与信息技术综合
L10-34 电子元件
L35-39 电真空器件
L40-49 半导体分立器件
L50-54 光电子器件
L55-59 微电路
L60-69 计算机
L70-84 信息处理技术
L85-89 电子测量与仪器
L90-94 电子设备与专用材料、零件、结构件
L95-99 电子工业生产设备
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 5271.22-1993数据处理词汇 22部分 计算器现行1993-01-071993-08-01
YD/T 618-1993139264kbit/s 误码测试仪技术条件现行1993-01-181993-07-01
YD/T 621-19932048、8448、34368、139264kbit/s 相位抖动分析仪技术条件现行1993-01-181993-07-01
YD/T 623-1993139 264 kbit/s 误码分析仪技术条件现行1993-01-181993-07-01
YD/T 622-199334 368kbit/s 误码分析仪技术条件现行1993-01-181993-07-01
GB/T 14114-1993半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理现行1993-01-211993-08-01
GB/T 14115-1993半导体集成电路采样 保持放大器测试方法的基本原理现行1993-01-211993-08-01
GB/T 14113-1993半导体集成电路封装术语现行1993-01-211993-08-01
GB/T 14119-1993半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范可供认证用现行1993-01-211993-08-01
SJ 20269-1993ESH3型测试收机检定规程现行1993-02-091993-05-01
SJ 20270-1993YH1301型全固态微波扫频功率信号发生器检定规程现行1993-02-091993-05-01
SJ 20271-1993HP8350B/HP83525B型扫频信号发生器检定规程现行1993-02-091993-05-01
SJ 20231-1993国洋双栅场效应晶体管Yg测试仪检定规程现行1993-02-091993-05-01
SJ 20230-1993BJ2951A(JS-5A)型晶体三极管Hpr测试仪检定规程现行1993-02-091993-05-01
SJ 20229-1993SZ2型雷达示波器检定规程现行1993-02-091993-05-01
SJ 20228-1993Gould 1421型数字存贮示波器检定规程现行1993-02-091993-05-01
SJ 20227-1993QF3370型频率计数器检定规程现行1993-02-091993-05-01
SJ 20236-1993GH2050/51型半导体管特性图示仪校准仪检定规程现行1993-02-091993-05-01
SJ 20237-1993GH3123型集成电路自动测试仪检定规程现行1993-02-091993-05-01
SJ 20235-1993IC-1500型自动测试仪检定规程现行1993-02-091993-05-01

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