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L 电子元器件与信息技术

收录 5000 项
下级分类
L00-09 电子元器件与信息技术综合
L10-34 电子元件
L35-39 电真空器件
L40-49 半导体分立器件
L50-54 光电子器件
L55-59 微电路
L60-69 计算机
L70-84 信息处理技术
L85-89 电子测量与仪器
L90-94 电子设备与专用材料、零件、结构件
L95-99 电子工业生产设备
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 46788-2025半导体器件表面镀涂锡和锡合金上的锡须的环境接收要求现行2025-12-022026-07-01
T/SZBSIA 003-2025电动汽车热失控及热管理系统 NTC 温度传感器技术标准现行2025-12-022025-12-02
GB/T 4937.38-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法现行2025-12-022026-07-01
GB/T 44886.3-2025网络安全技术 网络安全产品互联互通 第3部分:告警信息格式现行2025-12-022026-07-01
GB 46865-2025消费类激光指示器产品光辐射安全要求现行2025-12-022026-07-01
GB/T 7017-2025电阻器非线性测量方法现行2025-12-022026-07-01
GB/T 42968.9-2025集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分:辐射抗扰度测量 表面扫描法现行2025-12-022025-12-02
GB/T 25068.6-2025信息技术 安全技术 网络安全 第6部分:无线网络访问安全现行2025-12-022026-07-01
GB/T 43208.2-2025信息技术服务 智能运维 第2部分:数据治理现行2025-12-022026-07-01
GB/T 46844-2025资产管理 数字化成熟度模型现行2025-12-022025-12-02
GB/T 4937.24-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿 无偏置强加速应力试验现行2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.44-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法现行2025-12-022026-07-01
GB/T 46802-2025人工智能社会实验 实施指南现行2025-12-022025-12-02
GB/T 46801-2025人工智能社会实验 设计指南现行2025-12-022025-12-02
GB/T 46687.1-2025标准机器语言表达 第1部分:基本架构与要素表达通用要求现行2025-12-022026-07-01
GB/T 7016-2025固定电阻器电流噪声测量方法现行2025-12-022026-07-01
GB/T 46734-2025智能工厂评价通则现行2025-12-022026-04-01
GB/T 42706.3-2025电子元器件 半导体器件长期贮存 第3部分:数据现行2025-12-022026-07-01
GB/T 46798-2025网络安全技术 标识密码认证系统密码及其相关安全技术要求现行2025-12-022026-07-01
GB/T 46800-2025生成式人工智能技术应用社会影响 评估指南现行2025-12-022025-12-02

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