L40 半导体分立器件综合

收录 18 项

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 249-1989	半导体分立器件型号命名方法	已废止	1989-03-18	1990-04-01
GB/T 4589.1-1989	半导体器件分立器件和集成电路总规范	已废止	1989-03-31	1990-01-01
SJ/T 10229-1991	XJ4810半导体管特性图示仪	已废止	1991-05-28	1991-12-01
GB/T 4937-1995	半导体器件机械和气候试验方法	已废止	1995-12-22	1996-08-01
SJ/T 10696-1996	半导体分立器件QL50型机动车用九管桥式整流组件详细规范	已废止	1996-07-22	1996-11-01
GB/T 18910.1-2002	液晶和固态显示器件第1部分：总规范	已废止	2002-12-04	2003-05-01
GB/T 18910.2-2003	液晶和固态显示器件第2部分：液晶显示模块分规范	已废止	2003-11-24	2004-08-01
GB/T 22181.21-2008	等离子体显示器件第2-1部分：光学参数测量方法	已废止	2008-06-28	2008-11-01
GB/T 18910.41-2008	液晶显示器件第4-1部分：彩色矩阵液晶显示模块基本额定值和特性	已废止	2008-06-28	2008-11-01
GB/T 18910.22-2008	液晶显示器件第2-2部分：彩色矩阵液晶显示模块空白详细规范	已废止	2008-06-28	2008-11-01
GB/T 18910.11-2012	液晶显示器件第1-1部分：术语和符号	已废止	2012-11-05	2013-02-15
DB52/T 844-2013	半导体电流调整管	已废止	2013-10-16	2013-12-01
DB52/T 1104-2016	半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法	已废止	2016-04-01	2016-10-01
GB/T 249-2017	半导体分立器件型号命名方法	已废止	2017-05-12	2017-12-01
DB61/T 1250-2019	Sic（碳化硅）材料半导体分立器件通用规范	已废止	2019-06-25	2019-07-25
DB61/T 1448-2021	大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程	已废止	2021-03-22	2021-04-22
DB13/T 5695-2023	GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法	已废止	2023-05-06	2023-06-06
DB13/T 5696-2023	基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法	已废止	2023-05-06	2023-06-06