L45 微波、毫米波二、三极管
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 4023.4-2026 | 半导体分立器件 第4部分：微波二极管和晶体管 | 现行 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| SJ/T 11866-2022 | 半导体光电子器件 硅衬底白光功率发光二极管详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| GB/T 36613-2018 | 发光二极管芯片点测方法 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-01-01 |
| GB/T 36362-2018 | LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计(指数分布) | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| GB/T 36361-2018 | LED加速寿命试验方法 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| SJ/T 11578-2016 | LED模块电光转换效率要求 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 11455-2013 | 示波管和指示管测试方法 | 现行 | 2013-10-17 | 2013-12-01 |
| SJ/T 11399-2009 | 半导体发光二极管芯片测试方法 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| SJ/T 11400-2009 | 半导体光电子器件小功率发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| SJ/T 11401-2009 | 半导体发光二极管产品系列型谱 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| SJ/T 11393-2009 | 半导体光电子器件功率发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| SJ/T 11394-2009 | 半导体发光二极管测试方法 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| SJ/T 11398-2009 | 功率半导体发光二极管芯片技术规范 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| GB/T 15529-1995 | 半导体发光数码管空白详细规范 | 现行 | 1995-04-06 | 1995-11-01 |