C3972 半导体分立器件制造
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CVIA 118-2023 | T/DTIA 002-2023 光场显示器的单目立体视觉测量方法 | 现行 | 2023-04-18 | 2023-04-18 |
| T/CVIA 117-2023 | T/DTIA 001-2023 Micro LED光学特性测试方法 | 现行 | 2023-04-18 | 2023-04-18 |
| T/ACCEM 515-2025 | 高性能高密度沟槽栅IGBT器件 | 现行 | 2025-03-20 | 2025-04-18 |
| T/CASAS 052-2025 | 非钳位感性负载开关应力下GaN HEMT在线测试方法 | 现行 | 2025-05-26 | 2025-05-26 |
| T/CASAS 057-2025 | 高频开关应用下GaN功率器件开关运行状态可靠性试验方法 | 现行 | 2025-08-29 | 2025-08-29 |
| T/CASAS 037-2027 | 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）栅极电荷试验方法 | 现行 | 2025-12-30 | 2025-12-30 |