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31.030 电子技术专用材料
31.030 电子技术专用材料
收录
391
项
全部状态
现行
即将实施
废止
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标准号
标准名称
状态
发布日期
↕
实施日期
↕
SJ/T 10794-1996
电子技术用玻璃的牌号命名方法
现行
1996-11-20
1997-01-01
SJ/T 10793-1996
电子技术用玻璃名词术语
现行
1996-11-20
1997-01-01
SJ/T 11125-1997
电子元器件用环氧系灌封材料
现行
1997-09-02
1998-01-01
SJ/T 11126-1997
电子元器件用酚醛系包封材料
现行
1997-09-02
1998-01-01
SJ/T 11136-1997
电子陶瓷二氧化锆材料
现行
1997-09-02
1998-01-01
GB/T 9394-1998
电子工业用硅酸钾溶液
现行
1998-06-17
1998-12-01
GB/T 2414.1-1998
压电陶瓷材料性能试验方法 圆片径向伸缩振动模式
现行
1998-11-10
1999-07-01
GB/T 17711-1999
钇钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法
现行
1999-03-13
1999-10-01
JB/T 10079-1999
金属带材弹性性能试验方法
现行
1999-05-14
1999-07-01
JB/T 8899-1999
火花塞电极合金线
现行
1999-05-14
1999-07-01
GB/T 5597-1999
固体电介质微波复介电常数的测试方法
现行
1999-05-19
1999-12-01
JB/T 9493.3-1999
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 丁二酮肟质量法测定镍量
现行
1999-08-06
2000-01-01
JB/T 9493.4-1999
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 磺基水杨酸光度法测定铁量
现行
1999-08-06
2000-01-01
JB/T 9493.1-1999
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 电解重量法测定铜量
现行
1999-08-06
2000-01-01
JB/T 9493.6-1999
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量
现行
1999-08-06
2000-01-01
JB/T 9493.5-1999
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量
现行
1999-08-06
2000-01-01
JB/T 9493.7-1999
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 苯甲酸铵分离—EDTA滴定法测定铝量
现行
1999-08-06
2000-01-01
JB/T 9493.2-1999
锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硝酸铵氧化-硫酸亚铁铵 滴定法测定锰量
现行
1999-08-06
2000-01-01
SJ 20745-1999
高铗钨铢合金丝规范
现行
1999-11-10
1999-12-01
GB/T 3388-2002
压电陶瓷材料型号命名方法
现行
2002-07-18
2002-12-01
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