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31.080.01 半导体分立器件综合
31.080.10 二极管
31.080.20 晶体闸流管
31.080.30 三极管
31.080.99 其他半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
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42
项
全部状态
现行
即将实施
废止
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标准号
标准名称
状态
发布日期
↕
实施日期
↕
GB/T 44531-2024
微机电系统(MEMS)技术 基于MEMS技术的车规级压力传感器技术规范
现行
2024-09-29
2024-09-29
GB/T 44513-2024
微机电系统(MEMS)技术 传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法
现行
2024-09-29
2025-01-01
GB/T 44517-2024
微机电系统(MEMS)技术 MEMS膜残余应力的晶圆曲率和悬臂梁挠度试验方法
现行
2024-09-29
2025-04-01
GB/T 44515-2024
微机电系统(MEMS)技术 MEMS压电薄膜机电转换特性测量方法
现行
2024-09-29
2025-01-01
GB/T 44529-2024
微机电系统(MEMS)技术 射频MEMS环行器和隔离器
现行
2024-09-29
2024-09-29
GB/T 44849-2024
微机电系统(MEMS)技术 金属膜材料成形极限测量方法
现行
2024-10-26
2025-05-01
GB/T 44839-2024
微机电系统(MEMS)技术 MEMS材料微柱压缩试验方法
现行
2024-10-26
2025-02-01
GB/T 44842-2024
微机电系统(MEMS)技术 薄膜材料的弯曲试验方法
现行
2024-10-26
2024-10-26
GB/T 44919-2024
微机电系统(MEMS)技术 薄膜力学性能的鼓胀试验方法
现行
2024-11-28
2024-11-28
SJ/T 11972-2025
压接式绝缘栅双极晶体管(IGBT)平板陶瓷管壳
现行
2025-05-09
2025-08-01
T/ZOIA 3020-2025
半导体磁阻元件技术规范
现行
2025-06-16
2025-06-16
GB/T 46567.1-2025
智能计算 忆阻器测试方法 第1部分:基础特性
现行
2025-10-31
2025-10-31
GB/T 20521.2-2025
半导体器件 第14-2部分:半导体传感器 霍尔元件
现行
2025-12-02
2026-07-01
GB/T 46809.1-2025
半导体器件 第19-1部分:智能传感器 智能传感器的控制方案
现行
2025-12-31
2026-07-01
GB/Z 102.17-2026
半导体器件 分立器件 第17部分:基本绝缘和加强绝缘的磁耦合器和电容耦合器
现行
2026-01-04
2026-01-28
GB/T 47239.8-2026
半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法
现行
2026-02-27
2026-09-01
GB/T 47239.9-2026
半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分:一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法
现行
2026-02-27
2026-09-01
GB/T 15651.13-2026
半导体器件 第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验
现行
2026-02-27
2026-06-01
GB/T 46567.2-2026
智能计算 忆阻器测试方法 第2部分:线性度
现行
2026-04-30
2026-11-01
GB/T 47562-2026
微机电系统(MEMS)技术 MEMS硅压阻温压复合压力传感器芯片
现行
2026-04-30
2026-08-01
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