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L 电子元器件与信息技术

收录 5000 项
下级分类
L00-09 电子元器件与信息技术综合
L10-34 电子元件
L35-39 电真空器件
L40-49 半导体分立器件
L50-54 光电子器件
L55-59 微电路
L60-69 计算机
L70-84 信息处理技术
L85-89 电子测量与仪器
L90-94 电子设备与专用材料、零件、结构件
L95-99 电子工业生产设备
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 5081-1985电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南现行1985-04-171986-01-01
GB/T 5080.5-1985设备可靠性试验 成功率的验证试验方案现行1985-04-171986-01-01
GB/T 5735-1985电子设备用固定电阻器 第五部分:空白详细规范:精密固定电阻器 评定水平E 可供认证用现行1985-09-261986-09-01
GB/T 5734-1985电子设备用固定电阻器 第五部分:分规范:精密固定电阻器现行1985-09-261986-09-01
GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器评定水平E 可供认证用现行1985-11-261986-09-01
GB/T 5730-1985电子设备用固定电阻器 第二部分:分规范:低功率非线绕固定电阻器 可供认证用现行1985-11-261986-09-01
GB/T 5733-1985电子设备用固定电阻器 第四部分:空白详细规范:功率型固定电阻器 评定水平E 可供认证用现行1985-11-261986-09-01
GB/T 5732-1985电子设备用固定电阻器 第四部分:分规范:功率型固定电阻器可供认证用现行1985-11-261986-09-01
GB/T 5594.2-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法现行1985-11-271986-12-01
GB/T 5594.1-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法现行1985-11-271986-12-01
GB/T 5594.5-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法现行1985-11-271986-12-01
GB/T 5839-1986电子管和半导体器件额定值制现行1986-01-291986-12-01
GB/T 6254-1986电子设备用C类预调可变电容器类型规范现行1986-04-101987-04-01
GB/T 6253-1986电子设备用B类微调可变电容器类型规范现行1986-04-101987-04-01
GB/T 6252-1986电子设备用A类调谐可变电容器类型规范现行1986-04-101987-04-01
GB/T 6256-1986工业加热三极管空白详细规范现行1986-04-141987-04-01
GB/T 6258-1986盘封电子管空白详细规范现行1986-04-141987-04-01
GB/T 6430-1986晶体盒型号命名方法现行1986-05-271987-05-01
GB/T 6429-1986石英谐振器型号命名方法现行1986-05-271987-05-01
GB/T 3431.2-1986半导体集成电路文字符号 引出端功能符号现行1986-07-011987-04-01

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