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L 电子元器件与信息技术

收录 5000 项

下级分类

L00-09 电子元器件与信息技术综合

L00 标准化、质量管理

L01 技术管理

L02 经济管理

L04 基础标准与通用方法

L05 可靠性和可维护性

L06 电磁兼容

L07 电子计算机应用

L08 标志、包装、运输、贮存

L09 卫生、安全、劳动保护

L10-34 电子元件

L10 电子元件综合

L15 敏感元器件及传感器

L17 电感器、变压器

L18 滤波器、延迟线

L19 磁性元器件

L21 石英晶体、压电元件

L24 安装、接线连接件

L25 继电器、斩波器

L26 波导同轴元件及附件

L30 印制电路

L31 电声器件

L33 电子设备专用微特电机

L34 其他电子元器件

L35-39 电真空器件

L35 电真空器件综合

L36 收、发信管

L38 电子束管

L39 其他电真空器件

L40-49 半导体分立器件

L40 半导体分立器件综合

L41 半导体二极管

L42 半导体三极管

L43 半导体整流器件

L44 场效应器件

L45 微波、毫米波二、三极管

L46 温差电致冷组件与器件

L50-54 光电子器件

L50 光电子器件综合

L51 激光器件

L52 红外器件

L53 半导体发光器件

L54 半导体光敏器件

L55-59 微电路

L55 微电路综合

L56 半导体集成电路

L57 膜集成电路

L58 混合集成电路

L59 微型组件

L60-69 计算机

L60 计算机综合

L61 计算机的设计和质量评价

L62 计算机设备

L63 计算机外围设备

L64 数据媒体

L65 系统设备接口

L66 受计算机控制的电子器具

L67 计算机应用

L70-84 信息处理技术

L70 信息处理技术综合

L71 编码、字符集、字符识别

L72 数据元表示方法

L73 信息处理系统设计与文件编制

L74 程序语言

L75 标号和文卷结构

L76 文本准备与交换

L77 软件工程

L78 数据通信

L79 计算机开放与系统互连

L80 数据加密

L81 计算机图形

L85-89 电子测量与仪器

L85 电子测量与仪器综合

L86 通用电子测量仪器设备及系统

L87 电子试验用仪器设备

L88 其他电子仪器设备

L89 电源、电源装置

L90-94 电子设备与专用材料、零件、结构件

L90 电子技术专用材料

L91 电子设备用导线、电缆

L92 电子设备用绝缘零件

L93 电子设备用金属件

L94 电子设备机械结构件

L95-99 电子工业生产设备

L95 电子工业生产设备综合

L96 表面防护设备

L97 加工专用设备

L98 检验专用设备

L99 其他生产设备

左右滑动表格，可查看日期并点击排序

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
SJ 21294-2018	埋入元件印制板性能规范	现行	2018-01-18	2018-05-01
DB44/T 2109-2018	政务信息资源标识编码规范	现行	2018-01-25	2018-04-25
DB44/T 2110-2018	电子政务数据资源开放数据技术规范	现行	2018-01-25	2018-04-25
DB44/T 2111-2018	电子政务数据资源开放数据管理规范	现行	2018-01-25	2018-04-25
T/GDWCA 0010-2018	USB2.0接口转换线	现行	2018-01-31	2018-02-28
T/PCAC 0003-2018	银行卡销售点（POS）终端检测规范	现行	2018-02-02	2018-03-01
DB35/T 1743-2018	电子证照技术规范	现行	2018-02-05	2018-05-05
GB/T 13536-2018	飞机地面供电连接器	现行	2018-02-06	2018-02-06
GM/T 0054-2018	信息系统密码应用基本要求	现行	2018-02-08	2018-02-08
T/ZAII 001-2018	智能产品嵌入式RFID电子标签技术规范	现行	2018-02-08	2018-02-28
SJ/T 10805-2018	半导体集成电路电压比较器测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11700-2018	IP核质量信息描述方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11708-2018	功率电机驱动器测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11702-2018	半导体集成电路串行外设接口测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11706-2018	半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11703-2018	数字微电子器件封装的串扰特性测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11705-2018	微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11701-2018	通用NAND型快闪存储器接口	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 11704-2018	微电子封装的数字信号传输特性测试方法	现行	2018-02-09	2018-04-01
SJ/T 2406-2018	微波电路型号命名方法	现行	2018-02-09	2018-04-01