31.080.01 半导体分立器件综合
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 20870.1-2007 | 半导体器件第16-1部分：微波集成电路放大器 | 现行 | 2007-02-09 | 2007-09-01 |
| GB/T 4589.1-2006 | 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 | 现行 | 2006-10-10 | 2007-02-01 |
| GB/T 20516-2006 | 半导体器件分立器件 第4部分：微波器件 | 现行 | 2006-10-10 | 2007-02-01 |
| GB/T 4937.1-2006 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则 | 现行 | 2006-08-23 | 2007-02-01 |
| GB/T 4937.2-2006 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压 | 现行 | 2006-08-23 | 2007-02-01 |
| GB/T 20522-2006 | 半导体器件 第14-3部分：半导体传感器-压力传感器 | 现行 | 2006-08-23 | 2007-02-01 |
| GB/T 20521-2006 | 半导体器件 第14-1部分：半导体传感器-总则和分类 | 现行 | 2006-08-23 | 2007-02-01 |
| GB/T 11499-2001 | 半导体分立器件文字符号 | 现行 | 2001-11-05 | 2002-06-01 |
| GB/T 12560-1999 | 半导体器件 分立器件分规范 | 现行 | 1999-08-02 | 2000-03-01 |
| GB/T 17573-1998 | 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总则 | 现行 | 1998-11-17 | 1999-06-01 |
| SJ/T 10435-1993 | 半导体电阻应变计总规范（可供认证用） | 现行 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| SJ/T 10436-1993 | 半导体电阻应变计空白详细规范 评定水平Ｅ（可供认证用） | 现行 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| SJ/T 10149-1991 | 电子元器件图形库 半导体分立器件图形 | 现行 | 1991-04-02 | 1991-07-01 |