| GB/T 14119-1993 | 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范可供认证用 | 现行 | 1993-01-21 | 1993-08-01 |
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| SJ 20073-1992 | 半导体集成电路Jμ8254型可编程定时计数器详细规范 | 现行 | 1992-11-19 | 1993-05-01 |
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