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31 电子学

收录 3011 项
下级分类
31.020 电子元器件综合
31.030 电子技术专用材料
31.040 电阻器
31.040.01 电阻器综合
31.040.10 固定电阻器
31.040.20 电位器、可变电阻器
31.040.30 热敏电阻器
31.040.99 其他电阻器
31.060 电容器
31.060.01 电容器综合
31.060.10 固定电容器
31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器
31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器
31.060.40 钽电解电容器
31.060.50 铝电解电容器
31.060.60 可变电容器
31.060.70 电力电容器
31.060.99 其他电容器
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
31.080.10 二极管
31.080.20 晶体闸流管
31.080.30 三极管
31.080.99 其他半导体分立器件
31.100 电子管
31.120 电子显示器件
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
31.160 滤波器
31.180 印制电路和印制电路板
31.190 电子元器件组件
31.200 集成电路、微电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.220.01 机电元件综合
31.220.10 插头和插座装置、连接器
31.220.20 开关
31.220.99 其他机电零部件
31.240 电子设备用机械构件
31.260 光电子学、激光设备
左右滑动表格，可查看日期并点击排序
标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 2413-1980压电陶瓷材料体积密度测量方法现行1980-12-311981-10-01
GB/T 2689.2-1981寿命试验和加速寿命试验的图估计法（用于威布尔分布）现行1981-06-221981-10-01
GB/T 2689.3-1981寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法（用于威布尔分布）现行1981-06-221981-10-01
GB/T 2689.4-1981寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法（用于威布尔分布）现行1981-06-221981-10-01
GB/T 2689.1-1981恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法 总则现行1981-06-221981-10-01
GB/T 3307-1982小功率电子管灯丝断续试验方法现行1982-12-151983-10-01
GB/T 3351-1982人造石英晶体的型号命名现行1982-12-271983-10-01
GB/T 4166-1984电子设备用可变电容器的试验方法现行1984-02-271984-12-01
GB/T 4874-1985直流固定金属化纸介电容器总规范现行1985-01-231985-10-01
GB/T 4965-1985吸气剂分类及型号命名方法现行1985-02-281985-11-01
GB/T 5081-1985电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南现行1985-04-171986-01-01
GB/T 5735-1985电子设备用固定电阻器 第五部分：空白详细规范:精密固定电阻器 评定水平E 可供认证用现行1985-09-261986-09-01
GB/T 5734-1985电子设备用固定电阻器 第五部分：分规范：精密固定电阻器现行1985-09-261986-09-01
GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器 第二部分：空白详细规范：低功率非线绕固定电阻器评定水平E 可供认证用现行1985-11-261986-09-01
GB/T 5730-1985电子设备用固定电阻器 第二部分：分规范：低功率非线绕固定电阻器 可供认证用现行1985-11-261986-09-01
GB/T 5733-1985电子设备用固定电阻器 第四部分：空白详细规范：功率型固定电阻器 评定水平E 可供认证用现行1985-11-261986-09-01
GB/T 5732-1985电子设备用固定电阻器 第四部分：分规范：功率型固定电阻器可供认证用现行1985-11-261986-09-01
GB/T 5839-1986电子管和半导体器件额定值制现行1986-01-291986-12-01
GB/T 6254-1986电子设备用C类预调可变电容器类型规范现行1986-04-101987-04-01
GB/T 6253-1986电子设备用B类微调可变电容器类型规范现行1986-04-101987-04-01

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