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31 电子学

收录 4022 项

下级分类

31.020 电子元器件综合

31.030 电子技术专用材料

31.040 电阻器

31.040.01 电阻器综合

31.040.10 固定电阻器

31.040.20 电位器、可变电阻器

31.040.30 热敏电阻器

31.040.99 其他电阻器

31.060 电容器

31.060.01 电容器综合

31.060.10 固定电容器

31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器

31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器

31.060.40 钽电解电容器

31.060.50 铝电解电容器

31.060.60 可变电容器

31.060.70 电力电容器

31.060.99 其他电容器

31.080 半导体分立器件

31.080.01 半导体分立器件综合

31.080.10 二极管

31.080.20 晶体闸流管

31.080.30 三极管

31.080.99 其他半导体分立器件

31.100 电子管

31.120 电子显示器件

31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件

31.160 滤波器

31.180 印制电路和印制电路板

31.190 电子元器件组件

31.200 集成电路、微电子学

31.220 电子电信设备用机电元件

31.220.01 机电元件综合

31.220.10 插头和插座装置、连接器

31.220.20 开关

31.220.99 其他机电零部件

31.240 电子设备用机械构件

31.260 光电子学、激光设备

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 11496.2-1989	彩色显示管用Y30-B1荧光粉	已废止	1989-03-31	1990-03-01
GB/T 11498-1989	膜集成电路和混合膜集成电路分规范采用鉴定批准程序可供认证用	已废止	1989-03-31	1990-04-01
GB/T 11306-1989	电子设备用固定电容器空白详细规范：3 类瓷介电容器评定水平 E 可供认证用	已废止	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11310-1989	压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试	现行	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11312-1989	压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法	现行	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11303-1989	电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规范	现行	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11305-1989	电子设备用固定电容器分规范：3 类瓷介电容器可供认证用	已废止	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 3432.4-1989	半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74LS系列的品种	已废止	1989-03-31	1990-04-01
GB/T 3430-1989	半导体集成电路型号命名方法	已废止	1989-03-31	1990-04-01
GB/T 11297.10-1989	热释电材料居里温度 T@C 的测试方法	已废止	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11297.9-1989	热释电材料介质损耗角正切 tanδ的测试方法	已废止	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11296-1989	红外探测材料型号命名方法	现行	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11149-1989	标准电容箱	现行	1989-03-31	1990-04-01
GB/T 11320-1989	压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试	现行	1989-03-31	1990-03-01
GB/T 11297.4-1989	掺钕钇铝石榴石激光棒长脉冲激光阈值及斜率效率的测量方法	已废止	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11302-1989	电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范	现行	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11297.5-1989	掺钕钇铝石榴石激光棒连续激光阈值、斜率效率和输出功率的测量方法	已废止	1989-03-31	1990-01-01
GB/T 11496.1-1989	彩色显示管用Y30-G1荧光粉	已废止	1989-03-31	1990-03-01
GB/T 11480-1989	摄像管测试方法	已废止	1989-03-31	1990-03-01
GB/T 11293-1989	固体激光材料名词术语	现行	1989-03-31	1990-01-01