标准查询管家 · 标准信息查询与管理返回首页

31 电子学

收录 3011 项

下级分类

31.020 电子元器件综合

31.030 电子技术专用材料

31.040 电阻器

31.040.01 电阻器综合

31.040.10 固定电阻器

31.040.20 电位器、可变电阻器

31.040.30 热敏电阻器

31.040.99 其他电阻器

31.060 电容器

31.060.01 电容器综合

31.060.10 固定电容器

31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器

31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器

31.060.40 钽电解电容器

31.060.50 铝电解电容器

31.060.60 可变电容器

31.060.70 电力电容器

31.060.99 其他电容器

31.080 半导体分立器件

31.080.01 半导体分立器件综合

31.080.10 二极管

31.080.20 晶体闸流管

31.080.30 三极管

31.080.99 其他半导体分立器件

31.100 电子管

31.120 电子显示器件

31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件

31.160 滤波器

31.180 印制电路和印制电路板

31.190 电子元器件组件

31.200 集成电路、微电子学

31.220 电子电信设备用机电元件

31.220.01 机电元件综合

31.220.10 插头和插座装置、连接器

31.220.20 开关

31.220.99 其他机电零部件

31.240 电子设备用机械构件

31.260 光电子学、激光设备

左右滑动表格，可查看日期并点击排序

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 3306-2001	小功率电子管电性能测试方法	现行	2001-12-19	2002-08-01
GB/T 18500.2-2001	半导体器件集成电路第4部分接口集成电路第二篇线性模拟数字转换器（ADC）空白详细规范	现行	2001-11-05	2002-06-01
GB/T 18500.1-2001	半导体器件集成电路第4部分：接口集成电路第一篇线性数字模拟转换器(DAC)空白详细规范	现行	2001-11-05	2002-06-01
GB/T 18501.1-2001	有质量评定的直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器第1部分：总规范	现行	2001-11-05	2002-05-01
GB/T 18501.2-2001	直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器第2部分：有质量评定的圆形连接器分规范	现行	2001-11-05	2002-05-01
GB/T 11499-2001	半导体分立器件文字符号	现行	2001-11-05	2002-06-01
GB/T 12852-2001	磁控管总规范	现行	2001-11-05	2002-05-01
GB/T 12853-2001	连续波磁控管空白详细规范	现行	2001-11-05	2002-05-01
GB/T 6255-2001	空间电荷控制电子管总规范	现行	2001-11-02	2002-05-01
GB/T 18496-2001	电子设备用机电开关第4部分：钮子(倒扳)开关分规范	现行	2001-11-02	2002-06-01
YD/T 5098-2001	通信局(站)雷电过电压保护工程设计规范	现行	2001-08-01	2001-10-01
SJ/T 11233-2001	GZS10-4型双聚焦极彩色显像管插座详细规范	现行	2001-04-13	2001-05-01
GB/T 18335-2001	有贯穿连接的刚挠多层印制板规范	现行	2001-03-07	2001-06-01
SJ/T 959-2000	电子束管电极接线图图形符号	现行	2000-12-28	2001-03-01
SJ/T 10732-2000	电子管型号命名方法	现行	2000-12-28	2001-03-01
SJ/T 958-2000	电子束管电子光学系统电极命名方法	现行	2000-12-28	2001-03-01
SJ/T 10804-2000	半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理	现行	2000-12-28	2001-03-01
SJ/T 960-2000	电子束管侧引出线取向图示法	现行	2000-12-28	2001-03-01
SJ/T 11082-2000	电子管热丝和灯丝电流和电压的测试方法	现行	2000-12-28	2001-03-01
SJ/T 10741-2000	半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理	现行	2000-12-28	2001-03-01