H17 半金属及半导体材料分析方法

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
YS/T 226.1-2009	硒化学分析方法第1部分：铋量的测定氢化物发生-原子荧光光谱法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.4-2009	硒化学分析方法第4部分：汞量的测定双硫腙-四氯化碳滴定比色法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.7-2009	硒化学分析方法第7部分：镁量的测定火焰原子吸收光谱法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.8-2009	硒化学分析方法第8部分：铜量的测定火焰原子吸收光谱法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.11-2009	硒化学分析方法第11部分：铅量的测定火焰原子吸收光谱法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.13-2009	硒化学分析方法第13部分：银、铝、砷、硼、汞、铋、铜、镉、铁、镓、铟、镁、镍、铅、硅、锑、锡、碲、钛、锌量的测定电感耦合等离子体质谱法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.5-2009	硒化学分析方法第5部分：硅量的测定硅钼蓝分光光度法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.12-2009	硒化学分析方法第12部分：硒量的测定硫代硫酸钠容量法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 519.1-2009	砷化学分析方法第1部分：砷量的测定溴酸钾滴定法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.10-2009	硒化学分析方法第10部分：镍量的测定火焰原子吸收光谱法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.9-2009	硒化学分析方法第9部分：铁量的测定火焰原子吸收光谱法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.2-2009	硒化学分析方法第2部分：锑量的测定氢化物发生-原子荧光光谱法	现行	2009-12-04	2010-06-01
YS/T 226.3-2009	硒化学分析方法第3部分：铝量的测定铬天青S-溴代十六烷基吡啶分光光度法	现行	2009-12-04	2010-06-01
GB/T 14849.4-2008	工业硅化学分析方法第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量（内容不全）	已废止	2008-06-09	2008-12-01
GB/T 4060-2007	硅多晶真空区熔基硼检验方法	已废止	2007-09-11	2008-02-01
GB/T 11073-2007	硅片径向电阻率变化的测量方法	已废止	2007-09-11	2008-02-01
GB/T 4059-2007	硅多晶气氛区熔基磷检验方法	已废止	2007-09-11	2008-02-01
GB/T 11068-2006	砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法	现行	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 8760-2006	砷化镓单晶位错密度的测量方法	已废止	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 8758-2006	砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法	现行	2006-07-18	2006-11-01