H17 半金属及半导体材料分析方法

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 1557-2006	硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法	已废止	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 5252-2006	锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法	已废止	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 8757-2006	砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法	现行	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 4326-2006	非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法	已废止	2006-07-18	2006-11-01
GB/T 19921-2005	硅抛光片表面颗粒测试方法	已废止	2005-09-19	2006-04-01
GB/T 19922-2005	硅片局部平整度非接触式标准测试方法	现行	2005-09-19	2006-04-01
GB/T 4700.5-1998	硅钙合金化学分析方法红外线吸收法测定碳量	已废止	1998-12-07	1999-07-01
GB/T 4700.4-1998	硅钙合金化学分析方法磷钼蓝分光光度法测定磷量	已废止	1998-12-07	1999-07-01
GB/T 4700.7-1998	硅钙合金化学分析方法红外线吸收法和燃烧碘酸钾滴定法测定硫量	已废止	1998-12-07	1999-07-01
GB/T 14849.1-1993	工业硅化学分析方法 1,10-二氮杂菲分光光度法测定铁量	已废止	1993-12-30	1994-09-01
GB/T 14849.3-1993	工业硅化学分析方法钙量的测定	已废止	1993-12-30	1994-09-01
GB/T 14849.2-1993	工业硅化学分析方法铬天青-S分光光度法测定铝量	已废止	1993-12-30	1994-09-01
YS 68-1993	砷	已废止	1993-12-22	1994-10-01
YS/T 37.2-1992	高纯二氧化锗化学分析方法钼蓝分光光度法测定硅量	已废止	1992-03-13	1993-01-01
YS/T 34.2-1992	高纯砷化学分析方法化学光谱法测定钴,锌,银,铜,钙,铝,镍,铬,铅,镁,铁量	已废止	1992-03-13	1993-01-01
YS/T 37.3-1992	高纯二氧化锗化学分析方法石墨炉原子吸收光谱法测定砷量	已废止	1992-03-13	1993-01-01
YS/T 34.3-1992	高纯砷化学分析方法极谱法测定硒量	已废止	1992-03-13	1993-01-01
YS/T 37.1-1992	高纯二氧化锗化学分析方法硫氰酸汞分光光度法测定氯量	已废止	1992-03-13	1993-01-01
YS/T 34.4-1992	高纯砷化学分析方法极谱法测定硫量	已废止	1992-03-13	1993-01-01
YS/T 37.4-1992	高纯二氧化锗化学分析方法化学光谱法测定铁,镁,铅,镍,铝,钙,铜,铟和锌量	已废止	1992-03-13	1993-01-01