H21 金属物理性能试验方法

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 3658-2022	软磁金属材料和粉末冶金材料20Hz～100kHz频率范围磁性能的环形试样测量方法	现行	2022-10-12	2022-10-12
GB/T 41751-2022	氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法	现行	2022-10-14	2023-02-01
GB/T 41079.2-2022	液态金属物理性能测定方法第2部分：电导率的测定	现行	2022-10-14	2023-02-01
GB/T 3656-2022	电磁纯铁及软磁合金矫顽力的抛移测量方法	现行	2022-10-14	2023-02-01
GB/T 41765-2022	碳化硅单晶位错密度的测试方法	现行	2022-10-14	2023-05-01
GB/T 42271-2022	半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法	现行	2022-12-30	2023-04-01
GB/T 42161-2022	磷酸铁锂电化学性能测试首次放电比容量及首次充放电效率测试方法	现行	2022-12-30	2023-04-01
GB/T 42260-2022	磷酸铁锂电化学性能测试循环寿命测试方法	现行	2022-12-30	2023-04-01
GB/T 42472-2023	临界电流测量银包套Bi-2223超导线室温双弯曲后的保留临界电流	现行	2023-03-17	2023-10-01
SN/T 5496-2023	金属材料疲劳特性的评价非线性超声法	现行	2023-05-05	2023-12-01
GB/T 42514-2023	铝及铝合金阳极氧化膜及有机聚合物膜的腐蚀评定图表法	现行	2023-05-23	2023-12-01
GB/T 42544-2023	铝及铝合金阳极氧化膜及有机聚合物膜的腐蚀评定栅格法	现行	2023-05-23	2023-12-01
GB/T 42905-2023	碳化硅外延层厚度的测试红外反射法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 6616-2023	半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试非接触涡流法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 42902-2023	碳化硅外延片表面缺陷的测试激光散射法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 1553-2023	硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 42907-2023	硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 42676-2023	半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 42789-2023	硅片表面光泽度的测试方法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 1555-2023	半导体单晶晶向测定方法	现行	2023-08-06	2024-03-01