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C39 计算机、通信和其他电子设备制造业

收录 741 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
T/IAWBS 014-2021碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法现行2021-09-152021-09-22
T/IAWBS 015-2021氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法现行2021-09-152021-09-22
T/CI 027-2021液晶显示背光模组用量子点扩散板现行2021-09-152021-09-15
T/IAWBS 001-2021碳化硅单晶现行2021-09-162021-09-23
T/IAWBS 004-2021电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法现行2021-09-162021-09-23
T/CPIA 0030.1-2021晶体硅光伏电池用浆料 第1部分:背场铝浆 烧结型铝浆现行2021-10-152021-11-01
T/CPIA 0030.2-2021晶体硅光伏电池用浆料 第2部分:背面银浆 烧结型银浆现行2021-10-152021-11-01
T/CPIA 0030.3-2021晶体硅光伏电池用浆料 第3部分:正面银浆 烧结型银浆现行2021-10-152021-11-01
T/CPIA 0031-2021双面电池组件封装用透明保护膜现行2021-10-152021-11-01
T/CVIA 95-2021便携式移动终端用高显示面积占比屏( 全面屏 )技术规范现行2021-10-202021-10-20
T/CVIA 91-2021消费电子领域知识产权许可机制指南现行2021-10-202021-10-20
T/CASAS 013-2021碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法现行2021-11-012021-12-01
T/CASAS 014-2021碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法现行2021-11-012021-12-01
T/CASAS 017-2021第三代半导体 微纳米金属烧结技术 术语现行2021-11-012021-12-01
T/CASAS 018-2021微纳米金属烧结连接件 剪切强度试验方法现行2021-11-012021-12-01
T/CASAS 019-2021微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法现行2021-11-012021-12-01
T/CASAS 020-2021微纳米金属烧结体热导率试验方法 闪光法现行2021-11-012021-12-01
T/SZTY 0001-2021无线降噪耳机技术要求和测量方法现行2021-11-052022-06-15
T/JSSIA 0006-2021晶圆级扇出型封装外形尺寸现行2021-11-102021-11-15
T/JSSIA 0008-2021堆叠封装下封装体外形尺寸现行2021-11-102021-11-15

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