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C39 计算机、通信和其他电子设备制造业

收录 741 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
T/SZS 4005-2019智能门锁通用技术条件现行2019-09-102019-09-20
T/CPIA 0012-2019晶体硅光伏标准组件制作和使用指南现行2019-09-272019-10-15
T/CPIA 0014-2019光伏组件用绝缘隔离条现行2019-09-272019-10-15
T/CPIA 0015-2019光伏组件用背板现行2019-09-272019-10-15
T/TBPS 4119-2019延长线器具安全插座技术条件及检测方法现行2019-09-282019-12-01
T/CCZX 6-2019不间断电源现行2019-10-082019-10-17
T/CVIA 74-20198K电视显示屏接口技术规范现行2019-11-152019-11-16
T/CVIA 75-2019健康显示器件 第3部分 低闪烁显示器件技术要求与测试方法现行2019-11-152019-11-16
T/CASAS 009-2019半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法现行2019-11-252019-11-25
T/CASAS 010-2019氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法现行2019-11-252019-11-25
T/ZZB 1378-2019单、双面碳膜印制板现行2019-11-272019-12-31
T/GIEHA 15-2019空气净化产品品牌评价现行2019-12-092020-02-09
T/ZZB 1434-2019商品电子标价签现行2019-12-182019-12-31
T/IAWBS 008-2019SiC晶片的残余应力检测方法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 009-2019功率半导体器件稳态湿热高压偏置试验现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 010-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 012-2019碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-272019-12-31
T/GDPCIA 001-2019印品墨粉定影牢固度的测定 胶带法现行2019-12-312020-01-01

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