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29.045 半导体材料

收录 203 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
T/CASAS 069-2026半导体晶片激光刻字深度的测定 白光干涉法现行2026-05-062026-05-06
YS/T 43-2026高纯砷现行2026-04-152026-11-01
YS/T 1853-2026流化床法颗粒硅用籽晶现行2026-04-152026-11-01
GB/T 47404-2026碳化硅单晶现行2026-03-312026-10-01
GB/T 47097-2026氮化铝单晶抛光片现行2026-01-282026-08-01
GB/T 35305-2026太阳能电池用砷化镓单晶及抛光片现行2026-01-282026-08-01
GB/T 26071-2026太阳能电池用硅单晶及硅单晶片现行2026-01-282026-08-01
T/ZZB 3947-2025硅舟现行2025-12-202025-12-31
YS/T 1828-2025半导体材料掺杂用扩散膜现行2025-12-172026-07-01
YS/T 1829-2025区熔用硅多晶材料现行2025-12-172026-07-01
YS/T 1825-2025集成电路用四甲基硅烷现行2025-12-172026-07-01
GB/T 30858-2025蓝宝石单晶衬底抛光片现行2025-10-312026-05-01
T/IAWBS 024-2025金刚石单晶中石墨相的相对含量测定 拉曼光谱法现行2025-09-242025-10-10
T/IAWBS 023-2025金刚石单晶表面应力分布测定 拉曼光谱法现行2025-09-242025-10-10
T/CASAS 060-2025用于HEMT功率器件的硅衬底氮化镓外延片现行2025-08-292025-08-29
GB/T 30856-2025LED外延芯片用砷化镓衬底现行2025-08-012026-02-01
GB/T 25074-2025太阳能级硅多晶现行2025-06-302026-01-01
T/CASAS 54-2025氮化铝晶片吸收系数测试方法现行2025-05-202025-05-20
T/CASAS 53-2025氮化铝抛光片位错密度的测试 腐蚀坑法现行2025-05-202025-05-20
T/CIET 1279-2025碳化硅单晶生长技术规范 物理气相传输法（PVT）现行2025-05-142025-05-14

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