31.080 半导体分立器件

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
SJ/T 2658.12-2015	半导体红外发射二极管测量方法第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.11-2015	半导体红外发射二极管测量方法第11部分：响应时间	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.10-2015	半导体红外发射二极管测量方法第10部分：调制带宽	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.9-2015	半导体红外发射二极管测量方法第9部分：辐射强度空间分布和半强度角	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.3-2015	半导体红外发射二极管测量方法第3部分：反向电压和反向电流	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.2-2015	半导体红外发射二极管测量方法第2部分：正向电压	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.1-2015	半导体红外发射二极管测量方法第1部分：总则	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.8-2015	半导体红外发射二极管测量方法第8部分：辐射强度	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.7-2015	半导体红外发射二极管测量方法第7部分：辐射通量	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.6-2015	半导体红外发射二极管测量方法第6部分：辐射功率	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.5-2015	半导体红外发射二极管测量方法第5部分：串联电阻	现行	2015-10-10	2016-04-01
SJ/T 2658.4-2015	半导体红外发射二极管测量方法第4部分：总电容	现行	2015-10-10	2016-04-01
GB/T 4023-2015	半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管	现行	2015-12-31	2017-01-01
GB/T 15291-2015	半导体器件第6部分：晶闸管	现行	2015-12-31	2017-01-01
GB/T 51167-2016	海底光缆工程验收规范	现行	2016-01-04	2016-08-01
SJ/T 2749-2016	半导体激光二极管测试方法	现行	2016-01-15	2016-06-01
SJ/T 11586-2016	半导体器件10keV低能X射线总剂量辐射试验方法	现行	2016-01-15	2016-06-01
DB52/T 1104-2016	半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法	已废止	2016-04-01	2016-10-01
SJ/T 1831-2016	半导体分立器件 3DK28型ＮPＮ硅小功率开关晶体管详细规范	现行	2016-04-05	2016-09-01
SJ/T 1486-2016	半导体分立器件 3CG180型硅PNP高频高反压小功率晶体管详细规范	现行	2016-04-05	2016-09-01