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31.020 电子元器件综合
31.030 电子技术专用材料
31.040 电阻器
31.060 电容器
31.080 半导体分立器件
31.100 电子管
31.120 电子显示器件
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
31.160 滤波器
31.180 印制电路和印制电路板
31.190 电子元器件组件
31.200 集成电路、微电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.240 电子设备用机械构件
31.260 光电子学、激光设备
31.080 半导体分立器件
31.080 半导体分立器件
收录
382
项
全部状态
现行
即将实施
废止
下级分类
31.080.01 半导体分立器件综合
31.080.10 二极管
31.080.20 晶体闸流管
31.080.30 三极管
31.080.99 其他半导体分立器件
左右滑动表格,可查看日期并点击排序
标准号
标准名称
状态
发布日期
↕
实施日期
↕
GB/T 20992-2007
高压直流输电用普通晶闸管的一般要求
现行
2007-06-21
2008-02-01
GB/T 21039.1-2007
半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范
现行
2007-06-29
2007-11-01
QB/T 2626.2-2007
工业用缝纫机针板的通用技术条件 第2部分:高速包缝缝纫机针板
现行
2007-10-08
2008-03-01
GB/T 21420-2008
高压直流输电用光控晶闸管的一般要求
现行
2008-01-22
2008-09-01
SJ 50033/171-2007
半导体分立器件3DA518型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
现行
2008-01-24
2008-02-01
SJ 50033/173-2007
半导体分立器件3DA520型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
现行
2008-01-24
2008-02-01
SJ 50033/170-2007
半导体分立器件3DA516型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
现行
2008-01-24
2008-02-01
QJ 10005-2008
宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南
现行
2008-02-16
2008-06-01
JB/T 11050-2010
交流固态继电器
现行
2010-02-21
2010-07-01
SJ/T 10135-2010
TEC1系列温差电致冷组件总规范
现行
2010-12-29
2011-04-01
SJ/T 10136-2010
TES1系列温差电致冷组件总规范
现行
2010-12-29
2011-04-01
JB/T 9479-2011
光敏电阻器总规范
现行
2011-08-15
2011-11-01
GB/T 4937.4-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
现行
2012-11-05
2013-02-15
GB/T 4937.3-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
现行
2012-11-05
2013-02-15
GB/T 29332-2012
半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGB/T)
现行
2012-12-31
2013-06-01
JB/T 8950.2-2013
普通晶闸管 第2部分:平板形器件
现行
2013-04-25
2013-09-01
JB/T 8949.2-2013
普通整流管 第2部分:平板形器件
现行
2013-04-25
2013-09-01
JB/T 8949.1-2013
普通整流管 第1部分:螺栓形器件
现行
2013-04-25
2013-09-01
JB/T 7626-2013
反向阻断三极晶闸管测试方法
现行
2013-04-25
2013-09-01
JB/T 8950.1-2013
普通晶闸管 第1部分:螺栓形器件
现行
2013-04-25
2013-09-01
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