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31.080 半导体分立器件

收录 461 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
JB/T 8949.1-2013普通整流管 第1部分:螺栓形器件现行2013-04-252013-09-01
JB/T 7626-2013反向阻断三极晶闸管测试方法现行2013-04-252013-09-01
JB/T 8950.1-2013普通晶闸管 第1部分:螺栓形器件现行2013-04-252013-09-01
JB/T 7624-2013整流二极管测试方法现行2013-04-252013-09-01
JB/T 4193-2013快速晶闸管现行2013-04-252013-09-01
DB53/T 495-2013高原型高压变频装置已废止2013-08-012013-10-01
DB52/T 844-2013半导体电流调整管已废止2013-10-162013-12-01
SJ/T 3273-2013高压元件和组件的安全要求现行2013-10-172013-12-01
SJ/T 11458-2013液晶显示背光组件用LED性能规范已废止2013-10-172013-12-01
DB52/T 860-20135KP 系列硅瞬态电压抑制二极管详细规范已废止2013-12-062014-02-01
DB52/T 861-20132CB003 型硅雪崩整流二极管详细规范已废止2013-12-062014-02-01
JB/T 11623-2013平面厚膜半导体气敏元件现行2013-12-312014-07-01
GB 50986-2014干法赤泥堆场设计规范现行2014-04-152015-01-01
SJ/T 2217-2014硅光电晶体管技术规范现行2014-10-142015-04-01
SJ/T 2215-2015半导体光电耦合器测试方法现行2015-04-302015-10-01
SJ/T 2216-2015硅光电二极管技术规范现行2015-04-302015-10-01
SJ/T 2214-2015半导体光电二极管和光电晶体管测试方法现行2015-04-302015-10-01
SJ/T 11486-2015小功率LED芯片技术规范现行2015-04-302015-10-01
GB 51136-2015薄膜晶体管液晶显示器工厂设计规范现行2015-09-302016-06-01
SJ/T 2658.13-2015半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数现行2015-10-102016-04-01

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