| GB/T 46280.4-2025 | 芯粒互联接口规范 第4部分：基于2D封装的物理层技术要求 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| GB/T 46280.5-2025 | 芯粒互联接口规范 第5部分：基于2.5D封装的物理层技术要求 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12036-2025 | 人工智能芯片 云侧推理用深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12034-2025 | 人工智能芯片 边缘侧深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12026-2025 | 通用算力性能测评方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12035-2025 | 人工智能芯片 端侧深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12038-2025 | 模拟芯片设计一致性验证方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12039-2025 | 模数混合芯片设计一致性验证方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12037-2025 | 人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12040-2025 | 数字芯片设计一致性验证方法 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 12025-2025 | 通用算力性能测评技术要求 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| T/OIDAA 07-2025 | 基于SIM卡的数字身份 身份鉴别设备专用安全芯片技术要求 | 现行 | 2025-11-19 | 2025-12-11 |
| GB/T 42968.9-2025 | 集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 | 现行 | 2025-12-02 | 2025-12-02 |
| GB/T 42968.3-2025 | 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法 | 现行 | 2025-12-02 | 2025-12-02 |
| GB/T 42968.5-2025 | 集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分：工作台法拉第笼法 | 现行 | 2025-12-02 | 2025-12-02 |
| DL/T 2343.3-2025 | 电能计量设备用元器件技术规范 第3部分：非易失性存储器 | 现行 | 2025-12-18 | 2026-06-18 |
| DL/T 2979.1-2025 | 电力设备大气辐射试验方法 第1部分：集成电路中子单粒子效应 | 现行 | 2025-12-18 | 2026-06-18 |
| GB/T 44937.6-2025 | 集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法 | 现行 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| GB/T 46894-2025 | 车辆集成电路电磁兼容试验通用规范 | 现行 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| GB/T 44937.3-2025 | 集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法 | 现行 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |