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31 电子学

收录 4022 项
下级分类
31.020 电子元器件综合
31.030 电子技术专用材料
31.040 电阻器
31.040.01 电阻器综合
31.040.10 固定电阻器
31.040.20 电位器、可变电阻器
31.040.30 热敏电阻器
31.040.99 其他电阻器
31.060 电容器
31.060.01 电容器综合
31.060.10 固定电容器
31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器
31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器
31.060.40 钽电解电容器
31.060.50 铝电解电容器
31.060.60 可变电容器
31.060.70 电力电容器
31.060.99 其他电容器
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
31.080.10 二极管
31.080.20 晶体闸流管
31.080.30 三极管
31.080.99 其他半导体分立器件
31.100 电子管
31.120 电子显示器件
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
31.160 滤波器
31.180 印制电路和印制电路板
31.190 电子元器件组件
31.200 集成电路、微电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.220.01 机电元件综合
31.220.10 插头和插座装置、连接器
31.220.20 开关
31.220.99 其他机电零部件
31.240 电子设备用机械构件
31.260 光电子学、激光设备
左右滑动表格，可查看日期并点击排序
标准号标准名称状态发布日期 实施日期
T/CESA 1213-2022通用计算CPU性能测试评价技术要求现行2022-07-212022-08-20
T/CESA 1214-2022通用计算CPU性能测试基准运行框架要求现行2022-07-212022-08-20
T/CESA 1215-2022通用计算CPU性能测试基准负载设计要求现行2022-07-212022-08-20
T/CIE 133-2022磁随机存储器件数据保持时间测试方法现行2022-08-102022-08-10
T/CIE 134-2022磁随机存储芯片数据保持时间测试方法现行2022-08-102022-08-10
T/XYXCLM 0001-2022锂离子电池回收利用 回收及修复磷酸铁锂现行2022-08-252022-08-26
T/XYXCLM 0002-2022锂离子电池回收利用 回收及修复石墨负极现行2022-08-252022-08-26
T/XYXCLM 0003-2022锂离子电池回收利用 回收及修复镍钴锰酸锂现行2022-08-252022-08-29
T/QGCML 367-2022TFT-LCD 液晶显示模组现行2022-09-012022-09-16
T/ZJCX 0021-2022汽车电子用石英晶体谐振器现行2022-09-052022-09-05
T/ZPP 019-2022电子烟用气流控制器技术及检验规程现行2022-09-072022-09-20
T/SZBSIA 004-2022LED 固晶机技术规范现行2022-09-232022-09-24
T/SZBSIA 005-2022LED 固晶机检测规范现行2022-09-232022-09-24
T/SZBSIA 006-2022IC类半导体固晶机技术规范现行2022-09-232022-09-24
T/SZBSIA 007-2022IC类半导体固晶机检测规范现行2022-09-232022-09-24
JC/T 2690-2022铽镓石榴石（TGG）磁光晶体现行2022-09-302023-04-01
YD/T 4083-2022数字通信对称电缆用连接器 第1部分：总则现行2022-09-302023-01-01
YD/T 1542.4-2022信息通信用浪涌保护器技术要求和测试方法 第4部分：信号网络浪涌保护器现行2022-09-302023-01-01
GB/T 41853-2022半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量现行2022-10-122022-10-12
GB/T 41869.1-2022光学和光子学 微透镜阵列 第1部分：术语现行2022-10-122022-10-12

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