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31 电子学

收录 4022 项
下级分类
31.020 电子元器件综合
31.030 电子技术专用材料
31.040 电阻器
31.040.01 电阻器综合
31.040.10 固定电阻器
31.040.20 电位器、可变电阻器
31.040.30 热敏电阻器
31.040.99 其他电阻器
31.060 电容器
31.060.01 电容器综合
31.060.10 固定电容器
31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器
31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器
31.060.40 钽电解电容器
31.060.50 铝电解电容器
31.060.60 可变电容器
31.060.70 电力电容器
31.060.99 其他电容器
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
31.080.10 二极管
31.080.20 晶体闸流管
31.080.30 三极管
31.080.99 其他半导体分立器件
31.100 电子管
31.120 电子显示器件
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
31.160 滤波器
31.180 印制电路和印制电路板
31.190 电子元器件组件
31.200 集成电路、微电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.220.01 机电元件综合
31.220.10 插头和插座装置、连接器
31.220.20 开关
31.220.99 其他机电零部件
31.240 电子设备用机械构件
31.260 光电子学、激光设备
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
SJ/T 12032-2025半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12026-2025通用算力性能测评方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12035-2025人工智能芯片 端侧深度学习芯片测试指标与测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12009-2025集成电路蚀刻型引线框架现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12038-2025模拟芯片设计一致性验证方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12028-2025地面用晶体硅光伏组件外形尺寸及安装孔技术要求现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12039-2025模数混合芯片设计一致性验证方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12037-2025人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12040-2025数字芯片设计一致性验证方法现行2025-09-092026-03-01
JB/T 9502-2025锰铜精密电阻合金现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12025-2025通用算力性能测评技术要求现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12023-2025半导体设备 集成电路制造用化学气相淀积设备(CVD)测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12005-2025功率半导体封装用活性金属钎焊(AMB)氮化硅陶瓷覆铜基板现行2025-09-092026-03-01
T/CI 1177-2025高功率片式多层陶瓷电容器现行2025-09-152025-09-15
T/IAWBS 025-2025碳化硅器件功率循环试验方法现行2025-09-242025-10-10
DL/T 2951-2025配电终端后备电源用超级电容器技术规范现行2025-09-282026-03-28
T/DZJN 465-2025电冰箱有害物质检测样品拆分指南现行2025-09-302026-04-01
GB/T 31379.3-2025平板显示器偏光片测试方法 第3部分：可靠性现行2025-10-052026-05-01
GB/T 46282.1-2025纤维光学波长开关 第1部分： 总规范现行2025-10-052026-05-01
GB/T 46135.2-2025有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第2部分：光学性能现行2025-10-052026-05-01

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