| GB/T 6115.1-1998 | 电力系统用串联电容器 第1部分：总则 性能、试验和额定值 安全要求 安全导则 | 已废止 | 1998-01-20 | 1998-10-01 |
| GB/T 14472-1998 | 电子设备用固定电容器 第14部分：分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器 | 已废止 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| GB/T 17210-1998 | 电子设备用机电开关 第2部分：旋转开关分规范 第一篇 空白详细规范 | 已废止 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| GB/T 17209-1998 | 电子设备用机电开关 第2部分：旋转开关分规范 | 现行 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| GB/T 17207-1998 | 电子设备用固定电容器 第18部分：空白详细规范 固体(MnO2)电解质片式铝固定电容器 评定水平E | 已废止 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| GB/T 17208-1998 | 电子设备用固定电容器 第18部分：空白详细规范 非固体电解质片式铝固定电容器 评定水平E | 现行 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| GB/T 17206-1998 | 电子设备用固定电容器 第18部分：分规范 固体MnO2与非固体电解质片式铝固定电容器 | 现行 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| GB/T 14473-1998 | 电子设备用固定电容器 第14部分：空白详细规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器 评定水平D | 已废止 | 1998-01-19 | 1998-09-01 |
| GB/T 5095.2-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分：一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.5-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分：撞击试验（自由元件），静负荷试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 12864-1997 | 电子设备用压电陶瓷滤波器 电子元器件质量评定体系规范 第2部分：分规范 鉴定批准 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.15-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分：接触件和引出端的机械试验 第八篇试验15h接触件固定机构耐工具使用性 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.11-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分：气候试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.12-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分：锡焊试验 第六篇试验12f在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.8-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分：连接器、接触件及引出端的机械试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 17190-1997 | 电子设备用压电陶瓷滤波器 电子元器件质量评定体系规范 第1部分：总规范 鉴定批准 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.7-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分：机械操作试验和密封性试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.3-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分：载流容量试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.1-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分：总则 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |
| GB/T 5095.9-1997 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分：杂项试验 | 现行 | 1997-12-26 | 1998-10-01 |