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31 电子学

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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 4937.40-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分:采用应变仪的板级跌落试验方法现行2025-12-312026-07-01
GB/T 19405.4-2025表面安装技术 第4部分:湿敏器件的处理、标记、包装和分类现行2025-12-312026-07-01
T/CVIA 169.1-2025显示产品视觉健康评价方法 自然光相似性 第1部分:光谱相似度现行2025-12-312025-12-31
GB/T 46821-2025嵌入式基板测试方法现行2025-12-312026-04-01
GB/T 27700.2-2025有质量评定的声表面波滤波器 第2部分:使用指南现行2025-12-312026-07-01
GB/T 46892-2025高亮度LED用印制板热导率测试方法现行2025-12-312026-07-01
GB/T 44937.3-2025集成电路 电磁发射测量 第3部分:辐射发射测量 表面扫描法现行2025-12-312026-07-01
GB/T 44937.1-2025集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义现行2025-12-312026-07-01
GB/T 22319.8-2025石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具现行2025-12-312026-07-01
GB/T 44807.3-2025集成电路电磁兼容建模 第3部分:集成电路电磁干扰特性仿真模型 辐射发射建模(ICEM-RE)现行2025-12-312026-07-01
GB/T 4937.37-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分:采用加速度计的板级跌落试验方法现行2025-12-312026-07-01
GB/T 4937.10-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件现行2025-12-312026-07-01
GB/T 6346.23-2025电子设备用固定电容器 第23部分:分规范 表面安装金属化聚萘二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器现行2025-12-312026-07-01
GB/T 4937.8-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封现行2025-12-312026-07-01
GB/T 6346.1401-2025电子设备用固定电容器 第14-1部分:空白详细规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器 评定水平DZ现行2025-12-312026-07-01
GB/T 20521.4-2025半导体器件 第14-4部分:半导体传感器 半导体加速度计现行2025-12-312026-07-01
GB/T 44937.8-2025集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 IC带状线法现行2025-12-312026-07-01
GB/T 3352-2025人造石英晶体 规范与使用指南现行2025-12-312026-07-01
GB/T 44807.2-2025集成电路电磁兼容建模 第2部分:集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模(ICEM-CE)现行2025-12-312026-04-01
GB/T 46822.2-2025电气和电子设备用固定双电层电容器 第2部分:分规范 功率型双电层电容器现行2025-12-312026-07-01

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