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31 电子学

收录 4022 项

下级分类

31.020 电子元器件综合

31.030 电子技术专用材料

31.040 电阻器

31.040.01 电阻器综合

31.040.10 固定电阻器

31.040.20 电位器、可变电阻器

31.040.30 热敏电阻器

31.040.99 其他电阻器

31.060 电容器

31.060.01 电容器综合

31.060.10 固定电容器

31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器

31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器

31.060.40 钽电解电容器

31.060.50 铝电解电容器

31.060.60 可变电容器

31.060.70 电力电容器

31.060.99 其他电容器

31.080 半导体分立器件

31.080.01 半导体分立器件综合

31.080.10 二极管

31.080.20 晶体闸流管

31.080.30 三极管

31.080.99 其他半导体分立器件

31.100 电子管

31.120 电子显示器件

31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件

31.160 滤波器

31.180 印制电路和印制电路板

31.190 电子元器件组件

31.200 集成电路、微电子学

31.220 电子电信设备用机电元件

31.220.01 机电元件综合

31.220.10 插头和插座装置、连接器

31.220.20 开关

31.220.99 其他机电零部件

31.240 电子设备用机械构件

31.260 光电子学、激光设备

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
SJ 21152-2016	微波组件元器件选用指南	现行	2016-12-14	2017-03-01
SJ 21177-2016	印制电路用刚性基材电气性能测试方法	现行	2016-12-14	2017-03-01
SJ 21168-2016	MEMS惯性器件金属薄膜生长工艺技术要求	现行	2016-12-14	2017-03-01
SJ 21150-2016	微波组件印制电路板设计指南	现行	2016-12-14	2017-03-01
SJ 21178-2016	印制电路用刚性基材机械性能测试方法	现行	2016-12-14	2017-03-01
SJ 21192-2016	印制板通用规范	现行	2016-12-14	2017-03-01
SJ 21153-2016	微波组件芯片安装工艺技术要求	现行	2016-12-14	2017-03-01
SJ 21195-2016	印制板通断测试方法及要求	现行	2016-12-14	2017-03-01
SJ 21169-2016	MEMS惯性器件干法刻蚀工艺技术要求	现行	2016-12-14	2017-03-01
SJ 21162-2016	微波滤波器测试方法	现行	2016-12-14	2017-03-01
SJ 21166-2016	MEMS惯性器件划片工艺技术要求	现行	2016-12-14	2017-03-01
GB/T 33353-2016	电子电气产品中的限用物质三丁基锡和三苯基锡的测定气相色谱-质谱法	现行	2016-12-13	2017-07-01
GB/T 33345-2016	电子电气产品中短链氯化石蜡的测定气相色谱-质谱法	现行	2016-12-13	2017-07-01
GB/T 33352-2016	电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法	已废止	2016-12-13	2017-07-01
GB/T 33344-2016	电子电气产品中2,4-二硝基甲苯的测定气相色谱-质谱法	现行	2016-12-13	2017-07-01
GB/T 33351.1-2016	电子电气产品中砷、镀、锑的测定第1部分：电感耦合等离子体质谱法	现行	2016-12-13	2017-07-01
T/CAIA YQ003-2016	光谱仪器用线阵CCD光电性能通用测试方法	现行	2016-12-10	2017-03-15
DB35/T 1611-2016	COB 封装白光发光二极管技术规范	已废止	2016-11-11	2017-02-11
GB 51209-2016	发光二极管工厂设计规范	现行	2016-10-24	2017-07-01
SJ/T 11638-2016	电子化学品中颗粒的测试方法	现行	2016-10-22	2017-01-01