77.040.01 金属材料试验综合

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
JB/T 5488-1991	高频疲劳试验	已废止	1991-07-15	1992-07-01
JB/T 5754-1991	单通道发射检测仪技术条件	已废止	1992-01-07	1992-07-01
JB/T 6247-1992	型壳高温抗弯强度试验仪	已废止	1992-05-27	1993-04-01
GB/T 14140.2-1993	硅片直径测量方法千分尺法	已废止	1993-02-06	1993-10-01
GB/T 14140.1-1993	硅片直径测量方法光学投影法	已废止	1993-02-06	1993-10-01
GB/T 15615-1995	硅片抗弯强度测试方法	已废止	1995-07-12	1996-02-01
JB/T 7789-1995	双面立式平衡机技术条件	已废止	1995-11-10	1996-07-01
JB/T 7797-1995	橡胶、塑料拉力试验机技术条件	已废止	1995-11-10	1996-07-01
GB/T 16481-1996	稀土元素微波等离子体炬发射光谱(MPT-AES)标准谱表	已废止	1996-07-09	1997-01-01
GB/T 1553-1997	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	已废止	1997-06-03	1997-12-01
GB/T 1550-1997	非本征半导体材料导电类型测试方法	已废止	1997-06-03	1997-12-01
DL/T 652-1998	金相复型技术工艺导则	已废止	1998-03-19	1998-09-01
GB/T 17473.4-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定	已废止	1998-08-19	1999-03-01
GB/T 17473.6-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定	已废止	1998-08-19	1999-03-01
GB/T 17473.3-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定	已废止	1998-08-19	1999-03-01
GB/T 17473.7-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性试验	已废止	1998-08-19	1999-03-01
GB/T 17473.5-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定	已废止	1998-08-19	1999-03-01
GB/T 17473.1-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定	已废止	1998-08-19	1999-03-01
GB/T 17473.2-1998	厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定	已废止	1998-08-19	1999-03-01
SY/T 0059-1999	控制钢制设备焊缝硬度防止硫化物应力开裂技术规范	已废止	1999-05-17	1999-12-01