H21 金属物理性能试验方法

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 24578-2024	半导体晶片表面金属沾污的测定全反射X射线荧光光谱法	现行	2024-07-24	2025-02-01
T/ZSA 231-2024	氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法	现行	2024-05-15	2024-05-16
GB/T 43894.1-2024	半导体晶片近边缘几何形态评价第1部分：高度径向二阶导数法(ZDD)	现行	2024-04-25	2024-11-01
YB/T 6162-2024	取向电工钢涂层对基体的张应力测试方法	现行	2024-03-29	2024-10-01
YS/T 1615-2023	镍钴锰酸锂电化学性能测试直流内阻测试方法	现行	2023-12-20	2024-07-01
GB/T 43313-2023	碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试共焦点微分干涉法	现行	2023-11-27	2024-06-01
GB/T 43315-2023	硅片流动图形缺陷的检测腐蚀法	现行	2023-11-27	2024-06-01
GB/T 23365-2023	钴酸锂电化学性能测试首次放电比容量及首次充放电效率测试方法	现行	2023-09-07	2024-04-01
GB/T 43096-2023	金属粉末稳态流动条件下粉末层透过性试验测定外比表面积	现行	2023-09-07	2024-04-01
GB/T 43092-2023	锂离子电池正极材料电化学性能测试高温性能测试方法	现行	2023-09-07	2024-04-01
GB/T 43093-2023	镍锰酸锂电化学性能测试首次放电比容量及首次充放电效率测试方法	现行	2023-09-07	2024-04-01
GB/T 42905-2023	碳化硅外延层厚度的测试红外反射法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 6616-2023	半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试非接触涡流法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 42902-2023	碳化硅外延片表面缺陷的测试激光散射法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 1553-2023	硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 42907-2023	硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 42676-2023	半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 42789-2023	硅片表面光泽度的测试方法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 1555-2023	半导体单晶晶向测定方法	现行	2023-08-06	2024-03-01
GB/T 42514-2023	铝及铝合金阳极氧化膜及有机聚合物膜的腐蚀评定图表法	现行	2023-05-23	2023-12-01