H82 元素半导体材料
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB13/T 5118-2019 | 4H 碳化硅 N 型同质外延片通用技术要求 | 已废止 | 2019-11-28 | 2019-12-28 |
| GB/T 26071-2018 | 太阳能电池用硅单晶片 | 已废止 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 25076-2018 | 太阳能电池用硅单晶 | 已废止 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 35307-2017 | 流化床法颗粒硅 | 已废止 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |
| GB/T 25074-2017 | 太阳能级多晶硅 | 已废止 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| YS/T 1061-2015 | 改良西门子法多晶硅用硅芯 | 已废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11493-2015 | 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法 | 已废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 12963-2014 | 电子级多晶硅 | 已废止 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 29055-2012 | 太阳电池用多晶硅片 | 已废止 | 2012-12-31 | 2013-10-01 |
| GB/T 29054-2012 | 太阳能级铸造多晶硅块 | 已废止 | 2012-12-31 | 2013-10-01 |
| DB36/ 652-2012 | 太阳能级多晶硅单位产品能源消耗限额 | 已废止 | 2012-02-10 | 2012-05-01 |
| GB/T 25074-2010 | 太阳能级多晶硅 | 已废止 | 2010-09-02 | 2011-04-01 |
| GB/T 14140-2009 | 硅片直径测量方法 | 已废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 11071-2006 | 区熔锗锭 | 已废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 11069-2006 | 高纯二氧化锗 | 已废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 11070-2006 | 还原锗锭 | 已废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 12962-2005 | 硅单晶 | 已废止 | 2005-09-19 | 2006-04-01 |
| GB/T 12965-2005 | 硅单晶切割片和研磨片 | 已废止 | 2005-09-19 | 2006-04-01 |
| GB/T 12964-2003 | 硅单晶抛光片 | 已废止 | 2003-06-16 | 2004-01-01 |
| GB/T 19199-2003 | 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 | 已废止 | 2003-06-16 | 2004-01-01 |