H83 化合物半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 11093-2007	液封直拉法砷化镓单晶及切割片	现行	2007-09-11	2008-02-01
GB/T 11072-2009	锑化铟多晶、单晶及切割片	现行	2009-10-30	2010-06-01
YS/T 792-2012	单晶炉用碳_碳复合材料坩埚	现行	2012-11-07	2013-03-01
GB/T 30855-2014	LED外延芯片用磷化镓衬底	现行	2014-07-24	2015-04-01
GB/T 30854-2014	LED发光用氮化镓基外延片	现行	2014-07-24	2015-04-01
YS/T 988-2014	羧乙基锗倍半氧化物	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 978-2014	单晶炉碳_碳复合材料导流筒	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 977-2014	单晶炉碳_碳复合材料保温筒	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 979-2014	高纯三氧化二镓	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 982-2014	氢化炉碳_碳复合材料U形发热体	现行	2014-10-14	2015-04-01
SJ/T 11470-2014	发光二极管外延片	现行	2014-10-14	2015-04-01
SJ/T 11471-2014	发光二极管外延片测试方法	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 13-2015	高纯四氯化锗	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11488-2015	半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11489-2015	低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11490-2015	低位错密度砷化镓拋光片蚀坑密度的测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11487-2015	半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11492-2015	光致发光法测定磷镓砷晶片的组分	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11500-2015	碳化硅单晶晶向的测试方法	现行	2015-04-30	2015-10-01
SJ/T 11497-2015	砷化镓晶片热稳定性的试验方法	现行	2015-04-30	2015-10-01