| GB/T 5078-1985 | 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法 | 已废止 | 1985-04-16 | 1985-12-01 |
| GB/T 5076-1985 | 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量 | 已废止 | 1985-04-16 | 1985-12-01 |
| GB/T 5080.4-1985 | 设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法（指数分布） | 现行 | 1985-04-17 | 1986-01-01 |
| GB/T 5081-1985 | 电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南 | 现行 | 1985-04-17 | 1986-01-01 |
| GB/T 5080.5-1985 | 设备可靠性试验 成功率的验证试验方案 | 现行 | 1985-04-17 | 1986-01-01 |
| GB/T 5271.14-1985 | 数据处理词汇 14部分：可靠性维修和可用性 | 已废止 | 1985-07-30 | 1986-04-01 |
| GB/T 5295-1985 | 光电阴极光谱响应特性系列 | 已废止 | 1985-08-06 | 1986-03-01 |
| GB/T 5735-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分：空白详细规范:精密固定电阻器 评定水平E 可供认证用 | 现行 | 1985-09-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5734-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分：分规范：精密固定电阻器 | 现行 | 1985-09-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5489-1985 | 印制板制图 | 已废止 | 1985-11-01 | 1986-05-01 |
| GB/T 5731-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分：空白详细规范：低功率非线绕固定电阻器评定水平E 可供认证用 | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5730-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分：分规范：低功率非线绕固定电阻器 可供认证用 | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5733-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分：空白详细规范：功率型固定电阻器 评定水平E 可供认证用 | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5732-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分：分规范：功率型固定电阻器可供认证用 | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5594.2-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法 | 现行 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| GB/T 5594.3-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 | 已废止 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| GB/T 5594.6-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 | 已废止 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| GB/T 5594.1-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 | 现行 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| GB/T 5594.8-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 | 已废止 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| GB/T 5598-1985 | 氧化铍瓷导热系数测定方法 | 已废止 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |