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L40 半导体分立器件综合

收录 209 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 4937.11-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.15-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.19-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.21-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.14-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.22-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.17-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.30-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.20-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.201-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输现行2018-09-172019-01-01
GB/T 4937.18-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)现行2018-09-172019-01-01
DB61/T 1250-2019Sic(碳化硅)材料半导体分立器件通用规范已废止2019-06-252019-07-25
GB 51432-2020薄膜晶体管显示器件玻璃基板生产工厂设计标准现行2020-06-092021-03-01
DB61/T 1448-2021大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程已废止2021-03-222021-04-22
DB63/T 2021-2022市场监管信息技术服务管理规范现行2022-03-102022-04-10
SJ/T 10792-1996电子元器件详细规范高低频放大环境额定的双极型晶体管现行2022-10-182022-10-18
SJ/T 10779-1996电子元器件详细规范2CN41型硅快开关整流二极管现行2022-10-182022-10-18
SJ/T 10770-1996电子元器件详细规范3DG 130、3DG 111、3DG 201、3DK 106型环境额定高低频放大和开关用双极型晶体管现行2022-10-182022-10-18

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