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L55 微电路综合
L56 半导体集成电路
L57 膜集成电路
L58 混合集成电路
L59 微型组件
L56 半导体集成电路
L56 半导体集成电路
收录
207
项
全部状态
现行
即将实施
废止
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标准号
标准名称
状态
发布日期
↕
实施日期
↕
GB/T 42839-2023
半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 42835-2023
半导体集成电路 片上系统(SoC)
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 42848-2023
半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 42838-2023
半导体集成电路 霍尔电路测试方法
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 42837-2023
微波半导体集成电路 放大器
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 42836-2023
微波半导体集成电路 混频器
现行
2023-08-06
2023-12-01
GB/T 42744-2023
微波电路 电调衰减器测试方法
现行
2023-08-06
2024-03-01
T/CESA 1266-2023
半导体集成电路 光互连接口技术要求
现行
2023-07-27
2023-08-01
T/CSTM 01003-2023
相变存储器电性能测试方法
现行
2023-03-07
2023-06-07
T/GITIF 011-2023
WiFi&蓝牙一体化透传片技术规范
现行
2023-02-21
2023-02-22
T/ZZB 2858-2022
集成电路 小外形封装引线框架
现行
2022-12-08
2022-12-31
T/CESA 1232-2022
特定场景下的微控制器低功耗水平评价规范
现行
2022-11-30
2022-12-30
T/SICA 003-2022
基于RFID传输和存储技术的双频多接口温湿度检测标签芯片技术规范
现行
2022-10-31
2022-11-30
SJ/T 11846-2022
电压调整器低频噪声参数测试方法
现行
2022-10-20
2023-01-01
T/CIE 133-2022
磁随机存储器件数据保持时间测试方法
现行
2022-08-10
2022-08-10
T/CIE 134-2022
磁随机存储芯片数据保持时间测试方法
现行
2022-08-10
2022-08-10
T/CIE 126-2021
磁随机存储芯片测试方法
现行
2021-12-23
2022-02-10
T/CIITA 102-2021
PKS体系 中央处理器参考板
现行
2021-12-20
2022-02-01
YD/T 3944-2021
人工智能芯片基准测试评估方法
现行
2021-08-21
2021-11-01
GB/T 39842-2021
集成电路(IC)卡封装框架
现行
2021-03-09
2021-07-01
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