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29.020 电气工程综合
29.030 磁性材料
29.035 绝缘材料
29.040 绝缘流体
29.045 半导体材料
29.050 导体材料
29.060 电线和电缆
29.080 绝缘
29.100 电气设备元件
29.120 电工器件
29.130 开关装置和控制器
29.140 电灯及有关装置
29.160 旋转电机
29.180 变压器、电抗器、电感器
29.200 整流器、转换器、稳压电源
29.220 电池和蓄电池
29.240 输电网和配电网
29.260 特殊工作条件下用电气设备
29.280 电力牵引设备
29.045 半导体材料
29.045 半导体材料
收录
292
项
全部状态
现行
即将实施
废止
左右滑动表格,可查看日期并点击排序
标准号
标准名称
状态
发布日期
↕
实施日期
↕
T/CPIA 0012-2019
晶体硅光伏标准组件制作和使用指南
现行
2019-09-27
2019-10-15
T/CPIA 0014-2019
光伏组件用绝缘隔离条
现行
2019-09-27
2019-10-15
T/CPIA 0015-2019
光伏组件用背板
现行
2019-09-27
2019-10-15
T/GOTA 002-2019
绿色设计产品评价技术规范 发光二极管封装产品
现行
2019-10-28
2019-11-06
T/ZZB 1389-2019
单晶硅光伏电池
现行
2019-11-27
2019-12-31
DB13/T 5118-2019
4H 碳化硅 N 型同质外延片通用技术要求
已废止
2019-11-28
2019-12-28
T/SZSA 026-2019
固化用紫外线(UV)LED封装 技术规范
现行
2019-12-01
2019-12-01
T/IAWBS 008-2019
SiC晶片的残余应力检测方法
现行
2019-12-27
2019-12-31
T/IAWBS 009-2019
功率半导体器件稳态湿热高压偏置试验
现行
2019-12-27
2019-12-31
T/IAWBS 010-2019
碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
现行
2019-12-27
2019-12-31
T/IAWBS 011-2019
导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法
现行
2019-12-27
2019-12-31
T/IAWBS 012-2019
碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法
现行
2019-12-27
2019-12-31
T/IAWBS 013-2019
半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法
现行
2019-12-27
2019-12-31
GB/T 11094-2020
水平法砷化镓单晶及切割片
现行
2020-09-29
2021-08-01
T/ZSA 38-2020
SiC晶片的残余应力检测方法
现行
2020-12-17
2020-12-18
T/CASAS 006-2020
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范
现行
2020-12-28
2021-01-01
GB/T 20228-2021
砷化镓单晶
现行
2021-05-21
2021-12-01
T/ZZB 2332-2021
发光二极管用蓝宝石衬底抛光片
现行
2021-08-30
2021-09-30
T/IAWBS 014-2021
碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法
现行
2021-09-15
2021-09-22
T/IAWBS 015-2021
氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
现行
2021-09-15
2021-09-22
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