29.045 半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 29852-2013	光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29851-2013	光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 29849-2013	光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法	现行	2013-11-12	2014-04-15
GB/T 30453-2013	硅材料原生缺陷图谱	现行	2013-12-31	2014-10-01
GB/T 14863-2013	用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法	已废止	2013-12-31	2014-08-15
GB/T 30856-2014	LED外延芯片用砷化镓衬底	已废止	2014-07-24	2015-04-01
GB/T 30866-2014	碳化硅单晶片直径测试方法	已废止	2014-07-24	2015-02-01
GB/T 30858-2014	蓝宝石单晶衬底抛光片	已废止	2014-07-24	2015-04-01
GB/T 30868-2014	碳化硅单晶片微管密度的测定化学腐蚀法	已废止	2014-07-24	2015-02-01
GB/T 30855-2014	LED外延芯片用磷化镓衬底	现行	2014-07-24	2015-04-01
GB/T 30861-2014	太阳能电池用锗衬底片	现行	2014-07-24	2015-04-01
GB/T 30867-2014	碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法	已废止	2014-07-24	2015-02-01
GB/T 30854-2014	LED发光用氮化镓基外延片	现行	2014-07-24	2015-04-01
GB 51034-2014	多晶硅工厂设计规范	现行	2014-08-27	2015-05-01
YS/T 985-2014	硅抛光回收片	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 986-2014	晶片正面系列字母数字标志规范	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 988-2014	羧乙基锗倍半氧化物	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 989-2014	锗粒	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 978-2014	单晶炉碳_碳复合材料导流筒	现行	2014-10-14	2015-04-01
YS/T 977-2014	单晶炉碳_碳复合材料保温筒	现行	2014-10-14	2015-04-01