29.045 半导体材料

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 30868-2014	碳化硅单晶片微管密度的测定化学腐蚀法	已废止	2014-07-24	2015-02-01
GB/T 30867-2014	碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法	已废止	2014-07-24	2015-02-01
GB/T 14863-2013	用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法	已废止	2013-12-31	2014-08-15
DB65/T 3486-2013	太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法	已废止	2013-10-20	2013-12-01
DB65/T 3485-2013	太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法	已废止	2013-09-20	2013-12-01
GB/T 29057-2012	用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程	已废止	2012-12-31	2013-10-01
GB/T 29055-2012	太阳电池用多晶硅片	已废止	2012-12-31	2013-10-01
GB/T 29054-2012	太阳能级铸造多晶硅块	已废止	2012-12-31	2013-10-01
DB35/T 1146-2011	硅材料中杂质元素含量测定辉光放电质谱法	已废止	2011-04-10	2011-07-10
GB/T 14847-2010	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26068-2010	硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26071-2010	太阳能电池用硅单晶切割片	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 26069-2010	硅退火片规范	已废止	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 25075-2010	太阳能电池用砷化镓单晶	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 25076-2010	太阳电池用硅单晶	已废止	2010-09-02	2011-04-01
GB/T 25074-2010	太阳能级多晶硅	已废止	2010-09-02	2011-04-01
YS/T 724-2009	硅粉	已废止	2009-12-04	2010-06-01
SJ/T 11396-2009	氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片	已废止	2009-11-17	2010-01-01
GB/T 1553-2009	硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法	已废止	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 6616-2009	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法	已废止	2009-10-30	2010-06-01