标准查询管家 · 标准信息查询与管理返回首页
标准查询管家www.bzcha.com
让标准查询更清晰标准信息 · 分类浏览 · 实施状态

31.080.01 半导体分立器件综合

收录 153 项
左右滑动表格，可查看日期并点击排序
标准号标准名称状态发布日期 实施日期
T/CASAS 045-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）动态栅偏试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 044-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)高压高温高湿反偏试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 042-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）高温栅偏试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 037-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）栅极电荷测试方法现行2024-11-192024-11-19
T/SZAA 001-2024车身域控制器场效应管负载能力试验方法现行2024-11-142024-11-30
GB/T 20870.4-2024半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关现行2024-10-262024-10-26
T/CVIA 145-2024Micro LED显示屏质量视觉测试方法现行2024-10-162024-10-16
T/SZSA 031.01-2024ESD/TVS静电保护类器件测试规范现行2024-10-142024-10-21
T/SZSA 026-2024固化用紫外线（UV）LED封装 技术规范现行2024-10-142024-10-21
T/CI 544-2024低维半导体材料生长 、表征及电子元器件制作流程规范现行2024-10-082024-10-08
T/CASAS 034-2024用于零电压软开通电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法现行2024-09-302024-09-30
T/CASAS 035-2024用于第三象限续流的氮化镓高电子迁移率晶体管(HEMT)动态导通电阻测试方法现行2024-09-302024-09-30
GB/T 4937.34-2024半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环现行2024-03-152024-07-01
GB/T 4937.35-2024半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查现行2024-03-152024-07-01
GB/T 20870.5-2023半导体器件 第16-5部分：微波集成电路 振荡器现行2023-09-072024-01-01
GB/T 4937.26-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）现行2023-09-072024-04-01
GB/T 20870.2-2023半导体器件 第16-2部分：微波集成电路 预分频器现行2023-09-072023-09-07
T/CASAS 028-2023Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法现行2023-06-302023-07-01
T/CASAS 030-2023GaN毫米波前端芯片测试方法现行2023-06-302023-07-01
T/CASAS 027-2023射频GaN HEMT外延片二维电子气迁移率非接触霍尔测量方法现行2023-06-302023-07-01

小程序扫码登录

使用微信扫码进入“标准查询管家”小程序，并在小程序内确认登录。