31.200 集成电路、微电子学

收录 351 项

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 7092-2021	半导体集成电路外形尺寸	现行	2021-03-09	2021-10-01
GB/T 39842-2021	集成电路(IC)卡封装框架	现行	2021-03-09	2021-07-01
T/CSTM 00537-2021	微纳薄膜相变温度测试光功率分析法	现行	2021-05-11	2021-08-11
YD/T 3944-2021	人工智能芯片基准测试评估方法	现行	2021-08-21	2021-11-01
SJ/T 11790-2021	固态盘能耗测试方法	现行	2021-10-08	2021-11-01
T/JSSIA 0006-2021	晶圆级扇出型封装外形尺寸	现行	2021-11-10	2021-11-15
T/JSSIA 0008-2021	堆叠封装下封装体外形尺寸	现行	2021-11-10	2021-11-15
T/JSSIA 0007-2021	堆叠封装上封装体外形尺寸	现行	2021-11-10	2021-11-15
T/JSSIA 0007-2021	堆叠封装上封装体外形尺寸	现行	2021-11-10	2021-11-15
T/CIE 126-2021	磁随机存储芯片测试方法	现行	2021-12-23	2022-02-10
T/CESA 1213-2022	通用计算CPU性能测试评价技术要求	现行	2022-07-21	2022-08-20
T/CESA 1214-2022	通用计算CPU性能测试基准运行框架要求	现行	2022-07-21	2022-08-20
T/CESA 1215-2022	通用计算CPU性能测试基准负载设计要求	现行	2022-07-21	2022-08-20
T/CIE 133-2022	磁随机存储器件数据保持时间测试方法	现行	2022-08-10	2022-08-10
T/CIE 134-2022	磁随机存储芯片数据保持时间测试方法	现行	2022-08-10	2022-08-10
SJ/T 10784-1996	电子元器件详细规范半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路	现行	2022-10-18	2022-10-18
SJ/T 10783-1996	电子元器件详细规范半导体集成电路CD7176CP伴音中频放大电路和CD7609CP行、场扫描电路	现行	2022-10-18	2022-10-18
SJ/T 10746-1996	半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则	现行	2022-10-18	2022-10-18
SJ/T 10739-1996	半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理	现行	2022-10-18	2022-10-18
SJ/T 10803-1996	半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理	现行	2022-10-18	2022-10-18