31.200 集成电路、微电子学

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 17024-1997	半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范	现行	1997-10-07	1998-09-01
SJ 51420/2-1998	半导体集成电路F型陶瓷扁平外壳详细规范	现行	1998-03-11	1998-05-01
GB/T 9424-1998	半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范	现行	1998-11-17	1999-06-01
GB/T 17574-1998	半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路	现行	1998-11-17	1999-06-01
GB/T 17572-1998	半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范	现行	1998-11-17	1999-06-01
GB/T 17865-1999	焦深与最佳聚焦的测量规范	现行	1999-09-13	2000-06-01
GB/T 17866-1999	掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则	现行	1999-09-13	2000-06-01
GB/T 17864-1999	关键尺寸(CD)计量方法	现行	1999-09-13	2000-06-01
GB/T 5965-2000	半导体器件集成电路	现行	2000-01-03	2000-07-01
GB/T 17940-2000	半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路	现行	2000-01-03	2000-07-01
SJ/T 10804-2000	半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理	现行	2000-12-28	2001-03-01
SJ/T 10741-2000	半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理	现行	2000-12-28	2001-03-01
GB/T 18500.2-2001	半导体器件集成电路第4部分接口集成电路第二篇线性模拟数字转换器（ADC）空白详细规范	现行	2001-11-05	2002-06-01
GB/T 18500.1-2001	半导体器件集成电路第4部分：接口集成电路第一篇线性数字模拟转换器(DAC)空白详细规范	现行	2001-11-05	2002-06-01
GB/T 19248-2003	封装引线电阻测试方法	现行	2003-07-02	2003-10-01
GB/T 19403.1-2003	半导体器件集成电路第11部分：第1篇：半导体集成电路内部目检 (不包括混合电路)	现行	2003-11-24	2004-08-01
GB/T 17574.10-2003	半导体器件集成电路第2-10部分数字集成电路集成电路动态读写存储器空白详细规范	现行	2003-11-24	2004-08-01
SJ 20875-2003	扁平封装集成电路插座通用规范	现行	2003-12-15	2004-03-01
SJ 50597/60-2004	半导体集成电路JW117/JW150/JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范	现行	2004-08-02	2004-12-01
GB/T 12750-2006	半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)	现行	2006-08-23	2007-02-01