| SJ/T 10751-1996 | CJ40型直流固定金属化纸介电容器详细规范 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10739-1996 | 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10803-1996 | 半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10802-1996 | 半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10801-1996 | 半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10800-1996 | 半导体集成接口电路测试方法的基本原理 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10810-1996 | 电子元器件详细规范半导体集成电路CT1004型TTL六反相器 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10809-1996 | 电子元器件详细规范半导体集成电路CT1002型TTL四2输入或非门 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10808-1996 | 电子元器件详细规范.半导体集成电路TTL门电路(一) | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10806-1996 | 半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10815-1996 | 电子元器件详细规范半导体集成电路CT 1030型TTL 8输入与非门 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10814-1996 | 电子元器件详细规范半导体集成电路CT 1027型TTL三3输入或非门 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10813-1996 | 电子元器件详细规范半导体集成电路CT1020型TTL双4输入与非门 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10812-1996 | 电子元器件详细规范半导体集成电路CT1010型TTL三3输入与非门 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10811-1996 | 电子元器件详细规范半导体集成电路CT1008型TTL四2输入与门 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10819-1996 | 电子元器件详细规范35SX5B型黑白显象管 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10818-1996 | 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10817-1996 | 电子元器件详细规范半导体集成电路CT 1054型TTL4路2-2-2-2输入与或非门 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ/T 10816-1996 | 电子元器件详细规范半导体集成电路CT 1040型TTL双4输入与非缓冲器 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |
| SJ 20080-1992 | RMK2012型有可靠性指标的膜式片状固定电阻器详细规范 | 现行 | 2022-10-18 | 2022-10-18 |