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31 电子学

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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
DB32/T 4894-2024微机电系统半导体气体传感器性能检测方法现行2024-11-072024-12-07
T/SZAA 002-2024车身域控制器通用功率驱动装置测试规程现行2024-11-142024-11-30
T/SZAA 001-2024车身域控制器场效应管负载能力试验方法现行2024-11-142024-11-30
T/ZZB 3827-2024超声波细胞粉碎机现行2024-11-182024-12-18
T/CASAS 043-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)高温反偏试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 046-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)动态反偏(DRB)试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 021-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFETs)阈值电压测试方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 033-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)功率器件开关动态测试方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 045-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)动态栅偏试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 044-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)高压高温高湿反偏试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 042-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)高温栅偏试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 037-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)栅极电荷测试方法现行2024-11-192024-11-19
DB1310/T 357-2024液晶显示器件用背光组件测试规范现行2024-11-202024-12-20
GB/T 44919-2024微机电系统(MEMS)技术 薄膜力学性能的鼓胀试验方法现行2024-11-282024-11-28
GB/T 41869.4-2024光学和光子学 微透镜阵列 第4部分:几何特性测试方法现行2024-11-282025-03-01
GB/T 41869.3-2024光学和光子学 微透镜阵列 第3部分:光学特性测试方法现行2024-11-282025-06-01
T/GHIC 001-2024通讯射频连接器现行2024-11-292024-11-30
T/ZZB 3861-2024智能终端用声表面波滤波器现行2024-12-012025-01-01
T/GHIC 002-2024光伏连接器现行2024-12-022024-12-03
T/APOCN 0019-2024室内全彩LED显示屏现行2024-12-042024-12-11

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