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31 电子学

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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 44791-2024集成电路三维封装 带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求现行2024-10-262025-05-01
GB/T 44801-2024系统级封装(SiP)术语现行2024-10-262024-10-26
GB/T 44795-2024系统级封装(SiP)一体化基板通用要求现行2024-10-262024-10-26
GB/T 42968.2-2024集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法现行2024-10-262024-10-26
GB/T 20870.4-2024半导体器件 第16-4部分:微波集成电路 开关现行2024-10-262024-10-26
DB13/T 6033-2024半导体器件低浓度氢效应试验方法现行2024-10-282024-11-28
DB13/T 6034-2024热场发射电子枪灯丝更换与调校规范现行2024-10-282024-11-28
T/CVIA 148-2024T/DTIA 008-2024 OLED用有机材料迁移率测量方法现行2024-10-292024-10-29
T/CVIA 149-2024T/DTIA 009-2024 车载OLED可靠性试验方法 环境现行2024-10-292024-10-29
T/ZSA 001-2024轨道交通车辆用电流和电压传感器现行2024-11-012024-11-01
DB32/T 4894-2024微机电系统半导体气体传感器性能检测方法现行2024-11-072024-12-07
T/SZAA 002-2024车身域控制器通用功率驱动装置测试规程现行2024-11-142024-11-30
T/SZAA 001-2024车身域控制器场效应管负载能力试验方法现行2024-11-142024-11-30
T/ZZB 3827-2024超声波细胞粉碎机现行2024-11-182024-12-18
T/CASAS 043-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)高温反偏试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 046-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)动态反偏(DRB)试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 021-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFETs)阈值电压测试方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 033-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)功率器件开关动态测试方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 045-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)动态栅偏试验方法现行2024-11-192024-11-19
T/CASAS 044-2024碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)高压高温高湿反偏试验方法现行2024-11-192024-11-19

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