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31 电子学

收录 4022 项
下级分类
31.020 电子元器件综合
31.030 电子技术专用材料
31.040 电阻器
31.040.01 电阻器综合
31.040.10 固定电阻器
31.040.20 电位器、可变电阻器
31.040.30 热敏电阻器
31.040.99 其他电阻器
31.060 电容器
31.060.01 电容器综合
31.060.10 固定电容器
31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器
31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器
31.060.40 钽电解电容器
31.060.50 铝电解电容器
31.060.60 可变电容器
31.060.70 电力电容器
31.060.99 其他电容器
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
31.080.10 二极管
31.080.20 晶体闸流管
31.080.30 三极管
31.080.99 其他半导体分立器件
31.100 电子管
31.120 电子显示器件
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
31.160 滤波器
31.180 印制电路和印制电路板
31.190 电子元器件组件
31.200 集成电路、微电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.220.01 机电元件综合
31.220.10 插头和插座装置、连接器
31.220.20 开关
31.220.99 其他机电零部件
31.240 电子设备用机械构件
31.260 光电子学、激光设备
左右滑动表格，可查看日期并点击排序
标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 7016-2025固定电阻器电流噪声测量方法现行2025-12-022026-07-01
GB/T 42706.3-2025电子元器件 半导体器件长期贮存 第3部分：数据现行2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.33-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分：加速耐湿 无偏置高压蒸煮现行2025-12-022026-07-01
GB/T 42968.3-2025集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法现行2025-12-022025-12-02
GB/T 46789-2025半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的可动离子试验现行2025-12-022026-07-01
GB/T 46696-2025永久性阻焊材料规范现行2025-12-022026-07-01
GB/T 20521.2-2025半导体器件 第14-2部分：半导体传感器 霍尔元件现行2025-12-022026-07-01
GB/T 5076-2025具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量现行2025-12-022026-07-01
GB/T 4937.36-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：稳态加速度现行2025-12-022026-07-01
GB/T 42968.5-2025集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分：工作台法拉第笼法现行2025-12-022025-12-02
GB/T 4937.25-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分：温度循环现行2025-12-022026-07-01
GB/Z 107-2025半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估现行2025-12-032025-12-26
T/CPUMT 039-2025芯片级原子钟用半导体激光器测试规范现行2025-12-052025-12-05
T/CPUMT 043-2025光子晶体面发射激光器测试规范现行2025-12-052025-12-05
DB13/T 6237-2025引线键合台超声单元在线调校一般要求现行2025-12-162026-01-16
JB/T 11665-2025激光标线仪现行2025-12-172026-07-01
JB/T 11666-2025激光扫平仪现行2025-12-172026-07-01
DL/T 2343.3-2025电能计量设备用元器件技术规范 第3部分：非易失性存储器现行2025-12-182026-06-18
DL/T 2979.1-2025电力设备大气辐射试验方法 第1部分：集成电路中子单粒子效应现行2025-12-182026-06-18
SJ/T 12067-2025半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管门类规范现行2025-12-192026-07-01

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