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31 电子学

收录 4022 项

下级分类

31.020 电子元器件综合

31.030 电子技术专用材料

31.040 电阻器

31.040.01 电阻器综合

31.040.10 固定电阻器

31.040.20 电位器、可变电阻器

31.040.30 热敏电阻器

31.040.99 其他电阻器

31.060 电容器

31.060.01 电容器综合

31.060.10 固定电容器

31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器

31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器

31.060.40 钽电解电容器

31.060.50 铝电解电容器

31.060.60 可变电容器

31.060.70 电力电容器

31.060.99 其他电容器

31.080 半导体分立器件

31.080.01 半导体分立器件综合

31.080.10 二极管

31.080.20 晶体闸流管

31.080.30 三极管

31.080.99 其他半导体分立器件

31.100 电子管

31.120 电子显示器件

31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件

31.160 滤波器

31.180 印制电路和印制电路板

31.190 电子元器件组件

31.200 集成电路、微电子学

31.220 电子电信设备用机电元件

31.220.01 机电元件综合

31.220.10 插头和插座装置、连接器

31.220.20 开关

31.220.99 其他机电零部件

31.240 电子设备用机械构件

31.260 光电子学、激光设备

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
JB/T 9493.6-1999	锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法高氯酸脱水重量法测定硅量	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9493.5-1999	锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法硅钼兰光度法测定硅量	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 8958-1999	自愈式高电压并联电容器	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9493.7-1999	锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法苯甲酸铵分离—EDTA滴定法测定铝量	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9496-1999	钨铼热电偶用补偿导线	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9499.1-1999	康酮电阻合金化学分析方法电解重量法测定铜量	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9492-1999	钇铝石榴石激光器参数系列	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9493.2-1999	锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法硝酸铵氧化-硫酸亚铁铵滴定法测定锰量	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9489-1999	氩离子激光器主要参数测试方法	已废止	1999-08-06	2000-01-01
SJ/T 11212-1999	石英晶体元件参数的测量第6部分激励电平相关性(DLD)的测量	现行	1999-08-26	1999-12-01
SJ/T 211.6-1999	电子工业专用设备设计文件第6部分：设计文件的更改	现行	1999-08-26	1999-12-01
SJ/T 11211-1999	石英晶体元件参数的测量第5部分采用自动网络分析技术	现行	1999-08-26	1999-12-01
SJ/T 11203-1999	液晶材料术语	现行	1999-08-26	1999-12-01
SJ/T 11215-1999	电子元件自动编带机通用规范	已废止	1999-08-26	1999-12-01
SJ/T 11210-1999	石英晶体元件参数的测量第4部分：频率达30MHz石英晶体	现行	1999-08-26	1999-12-01
SJ/T 11113-1999	电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器	已废止	1999-08-26	1999-12-01
GB/T 17865-1999	焦深与最佳聚焦的测量规范	现行	1999-09-13	2000-06-01
GB/T 6145-1999	锰铜、康铜精密电阻合金线、片及带	已废止	1999-09-13	2000-05-01
GB/T 17866-1999	掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则	现行	1999-09-13	2000-06-01
GB/T 17864-1999	关键尺寸(CD)计量方法	现行	1999-09-13	2000-06-01