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31 电子学

收录 4022 项
下级分类
31.020 电子元器件综合
31.030 电子技术专用材料
31.040 电阻器
31.040.01 电阻器综合
31.040.10 固定电阻器
31.040.20 电位器、可变电阻器
31.040.30 热敏电阻器
31.040.99 其他电阻器
31.060 电容器
31.060.01 电容器综合
31.060.10 固定电容器
31.060.20 陶瓷电容器和云母电容器
31.060.30 纸介电容器和塑料膜电容器
31.060.40 钽电解电容器
31.060.50 铝电解电容器
31.060.60 可变电容器
31.060.70 电力电容器
31.060.99 其他电容器
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
31.080.10 二极管
31.080.20 晶体闸流管
31.080.30 三极管
31.080.99 其他半导体分立器件
31.100 电子管
31.120 电子显示器件
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
31.160 滤波器
31.180 印制电路和印制电路板
31.190 电子元器件组件
31.200 集成电路、微电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.220.01 机电元件综合
31.220.10 插头和插座装置、连接器
31.220.20 开关
31.220.99 其他机电零部件
31.240 电子设备用机械构件
31.260 光电子学、激光设备
左右滑动表格，可查看日期并点击排序
标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 17886.1-1999标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器第1部分：总则－性能、试验和定额－安全要求－安装和运行导则现行1999-10-102000-05-01
GB/T 17886.2-1999标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器第2部分：老化试验和破坏试验现行1999-10-102000-05-01
GB/T 17865-1999焦深与最佳聚焦的测量规范现行1999-09-132000-06-01
GB/T 6145-1999锰铜、康铜精密电阻合金线、片及带已废止1999-09-132000-05-01
GB/T 17866-1999掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则现行1999-09-132000-06-01
GB/T 17864-1999关键尺寸(CD)计量方法现行1999-09-132000-06-01
SJ/T 11212-1999石英晶体元件参数的测量 第6部分 激励电平相关性(DLD)的测量现行1999-08-261999-12-01
SJ/T 211.6-1999电子工业专用设备设计文件 第6部分：设计文件的更改现行1999-08-261999-12-01
SJ/T 11211-1999石英晶体元件参数的测量 第5部分 采用自动网络分析技术现行1999-08-261999-12-01
SJ/T 11203-1999液晶材料术语现行1999-08-261999-12-01
SJ/T 11215-1999电子元件自动编带机通用规范已废止1999-08-261999-12-01
SJ/T 11210-1999石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体现行1999-08-261999-12-01
SJ/T 11113-1999电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器已废止1999-08-261999-12-01
JB/T 9491-1999氦氖激光器主要测试方法已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 9499.3-1999康铜电阻合金化学分析方法 过硫酸铵氧化硫酸亚铁铵滴定法测定锰量已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 9490-1999二氧化碳激光器 主要参数测试方法已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 8168-1999脉冲电容器及直流电容器已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 9401-1999侧窗荧炮分析X射线管现行1999-08-062000-01-01
JB/T 9499.5-1999康铜电阻合金化学分析方法 电解除铜—EDTA滴定法测定镍量已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 9499.2-1999康铜电阻合金化学分析方法 碘化钾-硫代硫酸钠滴定法测定铜量已废止1999-08-062000-01-01

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